納米磁性薄膜微波磁譜測試方法研究.pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，磁性納米薄膜材料已經(jīng)廣泛應(yīng)用于高速電子工業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域，而目前磁性薄膜材料的應(yīng)用已進(jìn)入微波頻段，如何在微波頻段準(zhǔn)確測量材料的高頻電磁參數(shù)，在磁性薄膜的研究中顯得尤為重要。對磁性薄膜材料而言，復(fù)磁導(dǎo)率是表征材料電磁特性的重要參數(shù)，是決定磁性薄膜材料適用性的重要因素之一。因而在納米磁性薄膜材料研究中提出了對該類薄膜磁譜進(jìn)行準(zhǔn)確測量的迫切要求。
　　本文就磁性納米薄膜復(fù)磁導(dǎo)率的測試這一課題展開研究，通過對國內(nèi)外薄膜材料

2、的測試方法進(jìn)行比較分析，最終選用反射式短路微帶法對磁性納米薄膜的復(fù)磁導(dǎo)率進(jìn)行測試?；趥鬏斁€理論推導(dǎo)了短路微帶線夾具測量磁性薄膜復(fù)磁導(dǎo)率的計(jì)算公式，同時(shí)提出了三步法的測量步驟。
　　利用電磁仿真軟件HFSS對短路微帶測試夾具進(jìn)行了模擬仿真，仿真計(jì)算得到的薄膜材料的復(fù)磁導(dǎo)率與理論值基本一致，間接地驗(yàn)證了測試方案的正確性和可行性。
　　基于VEE虛擬儀器開發(fā)平臺，完成了對薄膜復(fù)磁導(dǎo)率自動(dòng)測試系統(tǒng)軟件的設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了對測量數(shù)據(jù)的讀取