液晶面板IC區(qū)域?qū)щ娏Ｗ幼詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)算法的研究.pdf

1、在工業(yè)環(huán)境中，對(duì)液晶面板的檢測(cè)多為人工檢測(cè)，檢測(cè)結(jié)果主觀性強(qiáng)，檢測(cè)效率低，而且一般只是抽樣檢測(cè)，不能滿足工業(yè)化生產(chǎn)對(duì)液晶面板產(chǎn)品質(zhì)量的檢測(cè)要求。隨著自動(dòng)化技術(shù)的進(jìn)步，工業(yè)生產(chǎn)對(duì)液晶面板的自動(dòng)化檢測(cè)的需求越來(lái)越大，自動(dòng)化技術(shù)也是各個(gè)行業(yè)的研究重點(diǎn)。本文研究的液晶面板IC區(qū)域?qū)щ娏Ｗ幼詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)算法能很好地解決當(dāng)前人工檢測(cè)的不足，檢測(cè)效率和誤檢漏檢率都能滿足工業(yè)生產(chǎn)的檢測(cè)要求。
　　本文首先對(duì)COG技術(shù)原理做了介紹，通過(guò)分析人工檢測(cè)的

2、不足，提出了基于機(jī)器視覺(jué)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方式來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。該方式能彌補(bǔ)人工檢測(cè)的不足，成本較低而且檢測(cè)效率高。
　　其次，對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)方案進(jìn)行了介紹，整個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)是由硬件和軟件兩部分組成，分為運(yùn)動(dòng)控制模塊、圖像采集模塊、軟件交互模塊和檢測(cè)算法模塊，其中PLC控制整個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)的機(jī)械運(yùn)動(dòng)，工控機(jī)則控制相機(jī)采集圖像，運(yùn)行檢測(cè)算法。
　　然后，對(duì)采集的導(dǎo)電粒子圖像進(jìn)行分析。因?yàn)椴杉脑紙D有很多不感興趣的信息，所以需要對(duì)原始圖像

3、進(jìn)行處理，從整個(gè)圖像中提取出感興趣的導(dǎo)電粒子區(qū)域，并對(duì)圖像進(jìn)行去噪和光照不均校正處理。
　　最后，針對(duì)導(dǎo)電粒子具有灰度值變化較大的特征，提出了一種基于光照方向局部均值差值的導(dǎo)電粒子檢測(cè)算法，通過(guò)對(duì)導(dǎo)電粒子的灰度特征進(jìn)行增強(qiáng)，大大降低了導(dǎo)電粒子檢測(cè)的誤檢率和漏檢率。針對(duì)多個(gè)導(dǎo)電粒子可能相互粘連從而形成一個(gè)大的連通區(qū)域，使用局部極大值法來(lái)計(jì)算導(dǎo)電粒子個(gè)數(shù)和位置。針對(duì)COG熱壓也會(huì)存在偏移誤差導(dǎo)致觸摸面板不合格的情況，提出了一種導(dǎo)電粒子