無損檢測超聲波檢測二級試題庫(ut)帶答案

1、無 損 檢 測超聲波試題 超聲波試題(UT) (UT)一、是非題 一、是非題 1.1 受迫振動的頻率等于策動力的頻率。 √ 1.2 波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。 ×（應(yīng)該是機械波） 1.3 由于機械波是由機械振動產(chǎn)生的，所以波動頻率等于振動頻率。 √1.4 由于機械波是由機械振動產(chǎn)生的，所以波長等于振幅。 ×1.5 傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。 √1.6

2、 材料組織不均勻會影響聲速，所以對鑄鐵材料超聲波探傷和測厚必須注意這一問題。√1.7 一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。 × 1.8 由端角反射率試驗結(jié)果推斷，使用 K≥l.5 的探頭探測單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢。 √1.9 超聲波擴散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān)。 √1.10 超聲波的頻率越高，傳播速度越快。 ×1.11 介質(zhì)能傳播橫波和表面

3、波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。 √1.12 頻率相同的縱波，在水中的波長大于在鋼中的波長。 × 1.13 既然水波能在水面?zhèn)鞑ィ敲闯暠砻娌ㄒ材苎匾后w表面?zhèn)鞑ァ?×1.14 因為超聲波是由機械振動產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點的振動速度。×1.15 如材質(zhì)相同，細鋼棒(直徑Zl 的界面時，聲壓透過率大于 1，說明界面有增強聲壓的作用。×1.35 超聲

4、波垂直入射到異質(zhì)界時，聲壓往復(fù)透射率與聲強透射率在數(shù)值上相等?！?1.36 超聲波垂直入射時，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。×1.37 當鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。√（聲壓反射率 也隨頻率增加而增加） 1.38 超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時，同種波型的反射角等于折射角。 ×1.39 超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時，同種波型的折射角總大于入射角。 3.

5、5 使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測范圍。 √3.6 點聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高。 √ 3.7 雙晶探頭只能用于縱波檢測。 ×3.8 B 型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。 √3.9 C 型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長度和寬度，但不能展現(xiàn)深度。 √ 3.10 通用 AVG 曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭。 √ 3.11 在通用 AVG 曲線

6、上，可直接查得缺陷的實際聲程和當量尺寸。 × 3.12 A 型顯示探傷儀，利用 DGS 曲線板可直觀顯示缺陷的當量大小和缺陷深度。 √3.13 電磁超聲波探頭的優(yōu)點之一是換能效率高，靈敏度高。 × 3.14 多通道探傷儀是由多個或多對探頭同時工作的探傷儀。×（應(yīng)是交替工作）3.15 探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路。 × （同步電路又稱觸發(fā)電路）3.16 探傷儀中的發(fā)

7、射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵探頭晶片振動。 √ 3.17 探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。×（掃描電路又稱時基電路，用來產(chǎn)生鋸齒波電壓施加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上，產(chǎn)生一條水平掃描時基線）3.18 探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強度愈弱。 ×（改變阻尼是調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的電壓幅度和脈沖寬度，阻值越大，發(fā)射強度越強，發(fā)射聲能越多，分辨力越小。 ）3.19 調(diào)節(jié)探傷儀“

8、深度細調(diào)”旋鈕時，可連續(xù)改變掃描線掃描速度?！蹋◤亩篃晒馄辽匣夭ㄩg距大幅度地壓縮或擴展） 3.20 調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時，抑制越大，儀器動態(tài)范圍越大。 × 3.21 調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時，掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變。 × 3.22 不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同?！?3.23 不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同壓電材料制作的探頭其標稱頻率才

9、能相同。 ×3.24 壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)(d33)大，則說明該晶片接收性能好。×（壓電應(yīng)變常數(shù) d33 大，發(fā)射性能好，發(fā)射靈敏度高） 3.25 壓電晶片的壓電電壓常數(shù)（g33）大，剛說明該晶片接收性能好?！蹋▌t接收靈敏度就高）3.26 探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機械品質(zhì)因素 Qm，減少機械能損耗。×（加吸收塊是為了減小機械品質(zhì)因素，Qm 小就表示損耗大，脈沖寬度小，分辨率高）3

10、.27 工件表面比較租糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。 × 3.28 斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。×（目的是為了減少雜波）3.29 由于水中只能傳插縱波，所以水浸探頭只能進行縱波探傷。× 3.30 雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠復(fù)蓋區(qū)愈大。 ×3.31 有機玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大。 √

11、 3.32 利用 IIW 試塊上 Φ50mm 孔與兩側(cè)面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍?！?.33 當斜探頭對準 IIW2 試塊上 R5 曲面時，熒光屏上的多次反射回波是等距離的。× 3.34 中心切槽的半圓試塊，其反射特點是多次回波總是等距離出現(xiàn)。 √ 3.35 與 IIW 試塊相比 CSK-IA 試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭分辨力。 √ 3.36 調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會改變儀器的水平

12、線性。×（調(diào)節(jié)水平旋鈕只是使掃描線連掃描線上的回波一起左右移動一段距離，但不改變回波間距，故也不會改變水平線性） 3.37 測定儀器的“動態(tài)范圈”時，應(yīng)將儀器的“抑制”、“深度補償”旋鈕置于“關(guān)”的位置。 √ 3.38 盲區(qū)與始波寬度是同一概念。×（盲區(qū)是指從檢測面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，盲區(qū)的大小與 儀器的阻塞時間和始脈沖寬度有關(guān)）3.39 測定組合靈敏度時，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平≤

13、l0%，再進行測試。 × 3.40 測定“始波寬度”對，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。 ×（靈敏度應(yīng)調(diào)到標準“0”點）3.41 為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強度應(yīng)盡量調(diào)得低一些?！?3.42 在數(shù)字化智能超聲波探傷儀中，脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率。 × 3.43 雙晶探頭主要用于近表面缺陷的探測。 √3.44 溫度對斜探頭折射角有影響，當溫度升高對，折射角將變大?！?/p>