基于ANSYS的磁控電抗器磁路結(jié)構(gòu)研究.pdf

1、本文在介紹了磁控電抗器主體結(jié)構(gòu)、工作原理和運(yùn)行狀態(tài)的基礎(chǔ)上，利用有限元分析軟件ANSYS建立了其三維結(jié)構(gòu)模型并進(jìn)行了理論分析和數(shù)學(xué)推導(dǎo)，對(duì)其電磁特性、損耗特性、溫升特性進(jìn)行了全面研究。
　　磁控電抗器磁路分布及磁密大小，會(huì)直接影響到其損耗。而各項(xiàng)損耗最終會(huì)以熱效應(yīng)的方式導(dǎo)致電抗器內(nèi)部溫升，不僅降低其工作效率、浪費(fèi)電能，還會(huì)導(dǎo)致絕緣老化，危害電抗器安全穩(wěn)定運(yùn)行。如果能找出導(dǎo)致其損耗增加的因素并在磁路結(jié)構(gòu)上進(jìn)行新的設(shè)計(jì)和改進(jìn)，不僅能夠

2、從根本上改善磁控電抗器的運(yùn)行性能，還能大大減少設(shè)計(jì)周期和費(fèi)用，有助于MCR的推廣應(yīng)用，充分發(fā)揮其優(yōu)勢(shì)。
　　為此，本文研究了影響磁控電抗器鐵芯損耗和溫升的各種因素，探索了磁路設(shè)計(jì)的原理和方法?；诖朔椒?，針對(duì)磁控電抗器損耗大、溫升大的缺點(diǎn)，提出了改善其工作性能的多種新型磁路結(jié)構(gòu)。研究了磁控電抗器磁路結(jié)構(gòu)與性能之間的關(guān)系，推導(dǎo)了材料磁導(dǎo)、鐵芯直徑和小截面面積對(duì)其磁路性能的影響機(jī)理，給出了一種通用的磁路結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計(jì)方法。通過對(duì)新型磁控