基于亞波長諧振的復介電常數(shù)非接觸測量.pdf

1、復介電常數(shù)作為反映物質與電磁場相互作用的重要參數(shù)，其測量和獲取在科學研究和工業(yè)生產(chǎn)中發(fā)揮著重要的作用。迄今為止，已經(jīng)有很多測量復介電常數(shù)的理論和方法，如電容法、傳輸線法、諧振腔法和自由空間法。這些方法各有優(yōu)缺點。本論文針對實際應用中大量存在的非接觸測量的測試要求，提出了基于亞波長諧振單元開口諧振環(huán)(SRRs)的復介電常數(shù)測試系統(tǒng)和測試方法。
　　SRRs原本被用于左右材料的設計，后來也被應用于微波濾波器等應用場合。由于SRRs具有

2、深度亞波長、高Q值的優(yōu)點，現(xiàn)在也有一些通過SRRs測量復介電常數(shù)的研究。但是這些研究都只適用于大面積被測樣品(SUT)的接觸測量，而且都是通過測量SRRs的頻率偏移來反演SUT的復介電常數(shù)。這種方法難以避免SRRs與SUT之間空隙的存在，它會嚴重影響測量的準確性。
　　與其不同的是，本文將深度亞波長、高Q、電耦合的SRRs用于高頻復介電常數(shù)的非接觸測量。由于采用非接觸測量，SUT將不再直接放置在SRRs上，這避免了接觸測量中無法良