基于線陣掃描的自動光學(xué)檢測系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著工業(yè)化與信息化的發(fā)展,現(xiàn)代制造業(yè)對于產(chǎn)品AOI(Automatic Optical Inspection,自動光學(xué)檢測)系統(tǒng)的需求與日俱增,其中對于大尺寸、高精度的產(chǎn)品檢測,線陣掃描AOI系統(tǒng)的地位非常之重要。對FPD(Flat Panel Display,平板顯示)、精密電子、半導(dǎo)體、玻璃、紡織、造紙等高科技制造業(yè)領(lǐng)域以及基礎(chǔ)制造業(yè)領(lǐng)域,線陣掃描AOI已成為行業(yè)的核心及標(biāo)準裝備。
  近年來中國在工業(yè)現(xiàn)代化方面的飛速發(fā)展,產(chǎn)

2、業(yè)調(diào)整升級勢在必行,要實現(xiàn)“中國智造”,核心裝備的自主化勢在必行。然而,由于起步晚、底子薄,線陣掃描AOI的高端裝備國產(chǎn)化水平遠遠不夠,要縮短與國外領(lǐng)先者之間的差距,必須在關(guān)鍵技術(shù)方面開展深入、系統(tǒng)的研究工作。
  本文結(jié)合實際產(chǎn)品項目開發(fā),從線陣掃描AOI的關(guān)鍵技術(shù)問題解決角度出發(fā),對以下幾個方面進行了分析與實驗,積累了相應(yīng)工程經(jīng)驗,為國產(chǎn)線陣掃描 AOI裝備的持續(xù)發(fā)展貢獻應(yīng)有的力量。
  1.系統(tǒng)構(gòu)成及關(guān)鍵問題綜合分析<

3、br>  對線陣掃描AOI系統(tǒng)的各子系統(tǒng)構(gòu)成進行了介紹,對各部分的關(guān)鍵工程問題進行了分析闡述。
  2.精密光機調(diào)校技術(shù)
  對單相機的線陣掃描AOI系統(tǒng)光機結(jié)構(gòu)及參數(shù)模型進行了分析,對各個自由度參數(shù)的測量與調(diào)整進行了設(shè)計,對調(diào)校流程進行了分析設(shè)計,在“光電碼盤AOI”系統(tǒng)中采取本方法實現(xiàn)了2.7μm光學(xué)分辨率的高精度采圖;基于單相機系統(tǒng)的研究基礎(chǔ),對多相機系統(tǒng)的光機調(diào)校進行研發(fā)設(shè)計,采用較為簡單的標(biāo)定方法替代了國外的方法,

4、實現(xiàn)了“家具板材孔位AOI”系統(tǒng)的像素級調(diào)校與系統(tǒng)檢測精度。
  3.運動控制技術(shù)優(yōu)化
  針對柔性介質(zhì)線陣掃描系統(tǒng)出現(xiàn)的圖像顏色錯位與邊緣鋸齒問題進行分析研究,從運動控制方式等方面進行改進,得到了大幅改進的圖像效果;針對剛性線掃描機構(gòu)AOI系統(tǒng),從閉環(huán)控制方式、速度曲線設(shè)計、誤差分析等方面進行分析設(shè)計,對“LCD/TP(液晶/觸摸屏) ITO(銦錫氧化物) AOI”系統(tǒng)實現(xiàn)了高精度圖像采集和亞像素級的重復(fù)測量精度。

5、  4.圖像采集質(zhì)量提升
  在三線彩色CCD相機硬件設(shè)計上進行了研究,通過各通道分別校正存儲的方式,滿足了大幅寬掃描系統(tǒng)對校正效率及性能的高要求;對彩色線掃描AOI系統(tǒng)在白平衡及平場校正問題進行了分析研究,根據(jù)“PCB外觀檢查機”系統(tǒng)對成像校正的需要,提出了適合工程應(yīng)用的圖像校正方法,并應(yīng)用于實際設(shè)備產(chǎn)品。
  5.大容量數(shù)據(jù)的加速處理
  對高分辨率、高處理速度要求的線陣掃描AOI系統(tǒng)的圖像采集、存儲系統(tǒng)進行研究,

6、從系統(tǒng)設(shè)計、圖像采集緩沖方法兩方面進行了工程化設(shè)計,滿足了實際工程應(yīng)用需求;對多核CPU并行處理方法進行研究,從原理、實現(xiàn)方式方面進行探討,并以O(shè)tsu算法為實驗對象進行了多核并行處理實驗,驗證了多核加速的線性特性;對GPU加速并行處理優(yōu)化進行了研究,對Ostu算法進行了并行加速實驗,驗證了共享顯存方式對 GPU加速的有效性以及 GPU對并行處理加速的特性;對FPGA實驗平臺上對形態(tài)學(xué)開操作算法進行了設(shè)計,用于PCB二值化線路圖像的處理

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