基于聚鄰甲氧基苯胺(POMA)的阻變存儲器的制備和性能研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著計算機和信息科技的飛速發(fā)展,當代社會對存儲器提出了越來越高的要求,非易失性存儲器(NVRAM, non-volatile random access memory)受到了廣泛的青睞。傳統(tǒng)的硅基存儲器在物理尺寸和加工工藝方面已經接近極限,近年來各種新型的高速度和高密度的NVRAM得到了迅速發(fā)展,如磁阻存儲器、相變存儲器、鐵電存儲器和阻變存儲器(ReRAM)。其中,阻變存儲器具有存儲密度高、讀寫速度快、功耗低、數據記憶時間長、反復操作耐

2、受力強、與CMOS工藝兼容等優(yōu)點,因此成為這些新型存儲器中最有應用前景的器件之一。
  阻變存儲器有著簡單的“三明治”結構,上電極為金屬,下電極為金屬或金屬半導體,中間的阻變功能層一般為金屬氧化物等絕緣介質。中間阻變功能層材料的選擇對器件的性能起著至關重要的作用。有機材料相對無機材料最大優(yōu)勢是價格低廉,成膜簡單,易于大面積成膜,而且可以目的性設計分子結構。因此,本實驗中選用有機物聚鄰甲氧基苯胺(POMA)作為阻變功能層材料,并著力

3、研究基于POMA的阻變存儲器的制備和性能。
  本論文中,首先制備合適的POMA溶液,采用旋涂工藝制備POMA阻變層薄膜,再利用電子束蒸發(fā)蒸鍍電極,最后成功制備Al/POMA/ITO器件,并對其進行相關性能測試及機理分析;之后成功制備兩種氧化石墨烯(GO)增強的POMA基阻變存儲器——Al/POMA∶GO/ITO和Al/POMA/GO/POMA/ITO器件,對它們的相關性能分別進行了簡單的測試,并與Al/POMA/ITO器件的性能

4、對比。本論文的主要研究工作及結果如下:
  (1)Al/POMA/ITO器件的制備、性能測試及機理分析稱取一定量的POMA溶于DMF中配制成1wt.%濃度的溶液,襯底選用ITO導電玻璃,選擇合適的旋涂轉速、氣氛及退火溫度制備阻變層薄膜,最后利用電子束蒸發(fā)設備蒸鍍一層Al電極,最終制得Al/POMA/ITO阻變存儲器。
  利用AFM對Al/POMA/ITO器件的中間阻變層POMA薄膜進行厚度測試,得出POMA薄膜有著大約50

5、 nm的厚度。之后對器件進行電性能測試,通過J-V曲線可以看出Al/POMA/ITO器件具有穩(wěn)定的雙極阻變特性,有著-1.15V的置位電壓,2.9V的復位電壓,約103的電流開關比。耐久性測試表明在100次循環(huán)掃描中,器件的SET和RESET電壓始終在一定的范圍內波動,而且器件的開關比在100次循環(huán)中一直保持103的數值,沒有明顯的退化。記憶時間測試表明了器件具有超過104s的數據記憶能力,而且器件的高、低阻態(tài)在長達104s的時間內均沒

6、有明顯的退化,表明了該器件是穩(wěn)定且非易失的。
  之后對器件進行了阻變機理的分析。通過對器件典型J-V曲線負偏壓端的雙對數圖進行數據線性擬合,可以看出,器件在低阻態(tài)時符合歐姆傳導機制,這是細絲傳導的一個證據;而高阻態(tài)時需要用空間電荷限制電流(SCLC)來解釋。之后分別對器件在高、低阻態(tài)時電阻和電極尺寸的依賴關系進行了測試。通過分析得出,高阻態(tài)時器件的電阻隨著電極尺寸的增大而減小;而在低阻態(tài)時,器件的電阻不隨電極尺寸的變化而變化。這

7、是細絲傳導的典型特點。通過這兩方面的測試,確定了Al/POMA/ITO器件的阻變機理為細絲傳導機制。對于該器件的細絲傳導機制,可以用POMA+離子導電細絲來解釋。因此,在Al/POMA/ITO器件中觀察到的雙極阻變特性可以歸因于POMA+離子導電細絲的形成和斷裂。
  (2)兩種GO增強的POMA基ReRAM的制備及簡單性能測試為了改善有機阻變存儲器Al/POMA/ITO的穩(wěn)定性,在器件中加入了GO,制備了Al/POMA∶GO/I

8、TO和Al/POMA/GO/POMA/ITO兩種ReRAM器件。
  對Al/POMA∶GO/ITO器件進行了I-V測試,該器件同樣顯示了良好的雙極阻變特性。其SET電壓為-1.5V,RESET電壓為3.3V,在0.5V處讀取電流的開關比為103。對該器件進行了連續(xù)10次循環(huán)掃描的I-V測試,可以看出器件具有穩(wěn)定的雙極阻變特性。其開關比在10次循環(huán)掃描中都沒有退化,一直保持為103。與Al/POMA/ITO器件連續(xù)10次循環(huán)掃描的

9、I-V曲線圖相比,Al/POMA∶GO/ITO器件的SET、RESET電壓分布范圍明顯變小,明顯更集中在某一區(qū)間內。這表明GO的加入增加了器件的穩(wěn)定性。
  對Al/POMA/GO/POMA/ITO器件進行了I-V測試,該器件也同樣顯示了良好的雙極阻變特性。其SET電壓為-1.2V,RESET電壓為2.4V,在0.5V處讀取電流的開關比為102。對器件連續(xù)10次循環(huán)掃描的I-V測試,可以看出,器件具有穩(wěn)定的雙極阻變特性。在0.5V

10、處讀取電流開關比為102,且在10次循環(huán)掃描中都沒有退化。與Al/POMA/ITO器件連續(xù)10次循環(huán)掃描的I-V曲線圖相比,Al/POMA/GO/POMA/ITO器件的SET和RESET電壓分布范圍明顯變小,分布更加集中。這表明了GO的加入使器件的穩(wěn)定性明顯變好了。但該器件的開關比變小了,變?yōu)?02。低阻態(tài)時兩種器件的電流基本一致,但高阻態(tài)時Al/POMA/GO/POMA/ITO器件的電流明顯比Al/POMA/ITO器件的大了10倍,這

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