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文檔簡介
1、超導(dǎo)動態(tài)電感探測器又稱微波動態(tài)電感探測器,是采用低能隙超導(dǎo)材料(如Al、TiNx等)而制成具有高Q值的共面波導(dǎo)諧振器,其通過入射光子拆散Cooper Pairs造成超導(dǎo)薄膜表面動態(tài)電感和Q值的變化進(jìn)行探測。采用平面制備工藝和頻分復(fù)用讀出方式,在大型陣列集成中具有明顯優(yōu)勢,已經(jīng)成為太赫茲波段靈敏度最高的探測器之一。其在天體物理學(xué)領(lǐng)域尤其是在宇宙微波背景輻射探測方面價(jià)值巨大,已在一些相關(guān)探測任務(wù)中發(fā)揮重要作用。
首先,本文從太赫茲
2、天文學(xué)引入,介紹低溫超導(dǎo)太赫茲探測器的發(fā)展歷程,以及該類型探測器在當(dāng)今天文探測任務(wù)中的應(yīng)用。同時(shí)簡單分析了MKIDs探測器的工作機(jī)制和相對其他探測器的優(yōu)勢。
其次,介紹了超導(dǎo)薄膜的電動力學(xué),結(jié)合共面波導(dǎo)(CPW)和四分之一波長微波諧振器的特性,深入綜合的研究了MKIDs探測器的探測機(jī)理。
再次,結(jié)合實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)的64像元的芯片,對芯片的超導(dǎo)薄膜工藝制備過程進(jìn)行了詳細(xì)的講解,包括涂光刻膠、紫外線曝光、蒸鍍鍍膜、光刻膠剝離
3、等工藝。利用方塊電阻測量儀測量薄膜方塊電阻和電阻率等參數(shù),并結(jié)合 X射線衍射儀(XRD)對薄膜進(jìn)行晶粒尺寸,結(jié)晶度,晶向等參量進(jìn)行分析。利用自動超聲波電焊儀進(jìn)行芯片的安裝固定。
最后,本文將芯片安裝在真空杜瓦,利用稀釋制冷機(jī)營造毫開溫區(qū)環(huán)境,在矢網(wǎng)上測量其傳輸系數(shù)。分析不同溫度,不同輸入功率以及杜瓦窗口不同探測目標(biāo)對諧振特性的影響。得到了與設(shè)計(jì)頻率(4-5.575GHz)符合度很好的芯片,其Q值高達(dá)104。
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