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文檔簡介
1、為了評估星載相控陣T/R組件的電性能、溫度傳感器及通道一致性溫度補償功能和抗單粒子效應(yīng)能力，本文針對星載X波段T/R組件中一款自主研發(fā)的CMOS多功能控制芯片，設(shè)計開發(fā)了一套基于PXI總線的綜合測試系統(tǒng)。系統(tǒng)采用高速數(shù)字I/O技術(shù)，提高了芯片電性能測試速度;同時系統(tǒng)具備高精度自動溫度測試功能，能夠精確評估芯片溫度傳感器性能;另外系統(tǒng)集成了單粒子效應(yīng)測試功能，能夠?qū)崟r監(jiān)測并記錄芯片試驗過程中參數(shù)變化情況，同時具備數(shù)據(jù)自動處理功能，能夠完成
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