星載抗輻射CMOS多功能控制芯片的綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

1、為了評(píng)估星載相控陣T/R組件的電性能、溫度傳感器及通道一致性溫度補(bǔ)償功能和抗單粒子效應(yīng)能力，本文針對(duì)星載X波段T/R組件中一款自主研發(fā)的CMOS多功能控制芯片，設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)了一套基于PXI總線的綜合測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)采用高速數(shù)字I/O技術(shù)，提高了芯片電性能測(cè)試速度;同時(shí)系統(tǒng)具備高精度自動(dòng)溫度測(cè)試功能，能夠精確評(píng)估芯片溫度傳感器性能;另外系統(tǒng)集成了單粒子效應(yīng)測(cè)試功能，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)并記錄芯片試驗(yàn)過(guò)程中參數(shù)變化情況，同時(shí)具備數(shù)據(jù)自動(dòng)處理功能，能夠完成

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