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文檔簡介
1、關聯(lián)成像與關聯(lián)干涉首先在量子糾纏系統(tǒng)中實現(xiàn)。然而近期一系列的研究證明,熱光也可以實現(xiàn)關聯(lián)成像和關聯(lián)干涉,打破了糾纏光源的局限,同時也引發(fā)了熱光關聯(lián)成像的量子本質(zhì)與經(jīng)典本質(zhì)之爭。熱光的光聯(lián)干涉和關聯(lián)成像逐漸成為研究的熱點課題之一。本文在熱光關聯(lián)干涉實驗中提出關聯(lián)濾波的思想,用以提高關聯(lián)干涉條紋的可見度,降低其漲落。我們設計非相干雙光子干涉儀,能夠在雙光子強度測量中獲得亞波長干涉條紋。
可見度是衡量關聯(lián)像的一個重要依據(jù),實驗中
2、獲得的像可見度越大,關聯(lián)圖像就越清晰,越能反應物體的細節(jié),我們也就可以獲得物體更多的信息。本文通過對關聯(lián)成像和關聯(lián)干涉的研究,理論分析了影響關聯(lián)成像的一個重要因素——關聯(lián)通光面積,并發(fā)現(xiàn)光場強度與關聯(lián)通光面積成正比關系。我們根據(jù)理論分析的結(jié)果,利用空間關聯(lián)濾波原理,在與物體相對稱位置的光路中放置光闌,適當減小光闌尺寸的大小,就可以獲得較為理想可見度的關聯(lián)干涉條紋。
糾纏雙光子的亞波長干涉實驗是量子糾纏超越經(jīng)典瑞利分辨極限的
3、驗證,表明量子刻錄的可行性。而熱光源的亞波長干涉實驗中,亞波長干涉條紋發(fā)生在相互關聯(lián)光子處于相對的位置,不能實現(xiàn)量子刻錄。因此研究一種不依賴于光束重合準直的亞波長干涉,將為熱光量子刻錄的開發(fā)應用奠定基礎。本文中我們設計了一種非相干干涉儀,將相互關聯(lián)的兩路光波之一的波前反轉(zhuǎn),然后使二者傳輸?shù)酵黄矫?,在探測平面上進行(x,x)掃描獲得亞波長干涉條紋。我們的研究進一步發(fā)現(xiàn),本方案的亞波長干涉圖樣并不依賴于兩關聯(lián)光束的準直和重合情況。如果將兩
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