鎢酸鎘晶體生長(zhǎng)及其閃爍性能的研究.pdf

1、以閃爍體為核心的閃爍探測(cè)器廣泛應(yīng)用于科研、醫(yī)療、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域，在高能物理、核醫(yī)療技術(shù)上的應(yīng)用更是關(guān)注的熱點(diǎn)。鎢酸鎘(CWO)晶體性能優(yōu)良，突出優(yōu)點(diǎn)：對(duì)X射線吸收系數(shù)大、輻射長(zhǎng)度短、輻照硬度大、發(fā)光與半導(dǎo)體光探測(cè)器的光譜靈敏度曲線相匹配等。
　　 本文對(duì)CWO晶體生長(zhǎng)及其閃爍性能進(jìn)行了研究，用提拉法生長(zhǎng)出困內(nèi)尺寸最大、光學(xué)品質(zhì)優(yōu)良的CWO，Gd：CWO晶體(φ57mm×45mm，φ60mm×34mm)；對(duì)CWO晶體系統(tǒng)研究了退火

2、氣氛、溫度、時(shí)間等對(duì)其光學(xué)性能的影響。為提高輻照硬度，摻入Gd2O3(251ppm)，成功生長(zhǎng)出Gd∶CWO晶體，采用γ射線對(duì)摻雜前后晶體進(jìn)行了輻照實(shí)驗(yàn)，經(jīng)104rad，105radγ射線輻照后，摻雜前晶體透過(guò)率和發(fā)射強(qiáng)度(470nm)分別下降了10.5％，23.6％，27.4％；而摻雜后只分別下降了2.1％，4.7％，9.5％。X射線Rietveld全譜擬合法研究了CWO晶體結(jié)構(gòu)，精確給出了其品格參數(shù)，首次報(bào)道了Gd∶CWO品格參數(shù)：