Ti-Al和Ti-SiO-,2--Al-SiO-,2-軟X射線光學多層膜的結構與熱穩(wěn)定性研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、基于Parratt循環(huán)光學理論和軟X射線光學多層膜的選材原則,設計了應用在18 nm附近的Ti/Al軟X射線光學多層膜(A=9.25 nm,Γ=0.3,N=20)。用磁控濺射法制備了濺射氣壓為0.5 Pa和2.0 Pa的Ti/Al多層膜,并對它們的結構和熱穩(wěn)定性進行了研究。 Ti/Al多層膜的結構和熱穩(wěn)定性是濺射氣壓的函數(shù),低濺射氣壓(0.5 Pa)下制備的多層膜具有相對高質(zhì)量、有序的結晶層,具有相對較小的表面粗糙度,熱穩(wěn)定性

2、好;高濺射氣壓(2.0 Pa)下制備的多層膜調(diào)制周期性差,晶向較為無序,表面粗糙度較大,熱穩(wěn)定性差。 對濺射氣壓為0.5 Pa的Ti/Al多層膜的結構和熱穩(wěn)定性進行了系統(tǒng)研究,發(fā)現(xiàn)制備態(tài)多層膜界面銳利而平坦,表面粗糙度小。Ti和Al層都是強織構多晶結構,擇優(yōu)取向為Ti(002)和Al(111),并且Ti/Al租Al/Ti界面厚度不對稱。當退火溫度為290℃時,多層膜的層間橫向相關性得到改善,表面粗糙度減小。超晶格結構可以維持到3

3、20℃左右。320℃時界面處有非晶合金相生成,根據(jù)有效生成焓理論,預測生成的合金相為TiAl3。當溫度上升至380℃時,多層膜的表面粗糙度增大,調(diào)制結構遭到破壞。在290℃以下、350℃以上周期的快速收縮和在290~350℃溫度范圍內(nèi)周期變化的階段性飽和現(xiàn)象是層間擴散和反應共同作用的結果。 為提高Ti/Al多層膜的熱穩(wěn)定性,用直流磁控濺射法和射頻濺射法制備了Ti/SiO2(2.0 nm)/Al/SiO2(2.0 nm)軟x射線光

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