微帶陣列天線互耦抑制技術(shù)的研究.pdf

1、由于具有剖面薄、體積小、重量輕、造價低廉、便于集成等優(yōu)點，微帶天線及其陣列已經(jīng)被廣泛應用于各種無線通信及雷達系統(tǒng)中。但是，當微帶天線及其陣列工作時，會在襯底中激勵起表面波，這使得陣列單元間的互耦增大，天線及其陣列增益降低。而相控陣天線中，由于單元間的互耦效應將引起掃描盲點，影響掃描范圍。 本論文正是基于上述問題開展研究的。首先總結(jié)了光子晶體(PBG)、共面電子帶隙(UC-EBG)及高阻抗表面在微帶陣列天線單元之間互耦抑制方面的應

2、用。然后，研究了缺陷地結(jié)構(gòu)的特點、發(fā)展概況及應用。最后提出利用缺陷地結(jié)構(gòu)(DGS)來抑制互耦，從而降低旁瓣，提高天線性能。仿真以及測試結(jié)果分析表明，DGS結(jié)構(gòu)能夠明顯降低天線陣元之間的耦合，增大天線增益，消除相控陣掃描盲點。 本文的主要內(nèi)容為： 1.設(shè)計了一種新型DGS結(jié)構(gòu)，并對該結(jié)構(gòu)進行了阻帶特性及參數(shù)提取分析，提出了一種更為準確的阻帶特性分析模型，為DGS結(jié)構(gòu)在微帶陣列天線中的應用提供較為準確的阻帶特性分析途徑。