金核銀殼納米粒子薄膜的制備及其導電性檢測.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、通過硅基表面金納米粒子催化的顯影操作在硅基表面上制備了致密有序的金核銀殼納米粒子薄膜。場發(fā)射掃描電鏡、循環(huán)伏安、電化學阻抗分別檢測了金核銀殼納米粒子薄膜的表面形貌和導電性。場發(fā)射掃描電鏡表明金核銀殼納米粒子薄膜致密有序。循環(huán)伏安表明金核銀殼納米粒子薄膜導電性良好、穩(wěn)定，電化學阻抗譜表明金核銀殼納米粒子薄膜的極化電阻小于玻碳工作電極。本研究提供了一種可用于新型電極材料的金核銀殼納米粒子薄膜的制備方法。 在制備金納米粒子的過程中，考

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