基于條紋投影和條紋反射的手機殼內外表面質量檢測方法.pdf

1、隨著移動互聯(lián)網(wǎng)時代的到來，手機市場迅速擴張，手機殼加工過程中的質量控制也備受關注。在此基礎上，本論文進行了基于條紋投影和條紋反射技術的手機殼內外表面質量檢測方法研究。為實現(xiàn)對不同種類手機殼的高精度、快速檢測，文中首先重點研究了不同類型手機殼的檢測策略，并通過提出條紋投影和條紋反射復合迭代算法，解決了低反射率手機殼難以實現(xiàn)高精度檢測的問題，最后，對不同手機殼進行了表面質量檢測實驗。
　　本研究為了設計不同類手機殼的測量方案，采用Na

2、yar光照模型對手機殼表面反射情況進行研究，并在此基礎上分析手機殼表面反射特性對于條紋投影和條紋反射各自測量精度的影響。通過結合Taylor高階積分算法和迭代補償積分算法，提出Taylor高階迭代法積分算法。由于該算法采用高階Taylor多項式來構建積分方程，因此積分高度具有更小的積分誤差，在實現(xiàn)相同測量精度的情況下，迭代次數(shù)縮減為原來的一半，大大節(jié)約了重建時間。在對手機殼面進行測量時，為了解決條紋投影技術和條紋反射技術對于低反射率手機

3、殼測量精度不高的問題，文中提出一種復合迭代算法，算法能夠將條紋投影的高度測量優(yōu)勢與條紋反射的梯度敏感性進行良好結合。復合迭代算法能夠將條紋投影技術和條紋反射技術進行結合，該算法的優(yōu)越性在仿真和實驗中得到了證實。最后，利用條紋投影和條紋反射復合系統(tǒng)分別對手機殼內外表面進行了面形重建和缺陷檢測，并根據(jù)缺陷類型的采用不同的檢測方法。通過實驗檢測得出復合系統(tǒng)對于手機殼外表面的測量精度為0.14μm；對手機殼內表面的測量精度為33μm，滿足工業(yè)檢