目標(biāo)粗糙表面對(duì)回波外差探測(cè)的影響.pdf

1、合成孔徑激光雷達(dá)(SAL)能夠獲得很高的空間分辨率，具有進(jìn)行遠(yuǎn)距離、大面積成像等諸多優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)成為國內(nèi)外研究的一個(gè)熱點(diǎn)。目標(biāo)回波外差探測(cè)技術(shù)是SAL的一項(xiàng)核心技術(shù)，在很大程度上決定了SAL系統(tǒng)的性能。但目標(biāo)表面粗糙特性導(dǎo)致回波外差效率嚴(yán)重下降，成為限制SAL技術(shù)應(yīng)用的一個(gè)瓶頸。本文針對(duì)合成孔徑激光雷達(dá)中粗糙表面目標(biāo)的光外差探測(cè)進(jìn)行初步研究。
　　首先對(duì)光外差探測(cè)原理進(jìn)行了分析，從而定義外差反射率，用于表征目標(biāo)為粗糙表面時(shí)回波信號(hào)光

2、的“退相干”效應(yīng)。再利用蒙特卡羅方法構(gòu)造二維高斯隨機(jī)粗糙面作為探測(cè)目標(biāo)，建立光外差探測(cè)模型；分析了不同狀態(tài)下高斯隨機(jī)粗糙面對(duì)外差反射率的影響。
　　本文還對(duì)不同粗糙表面進(jìn)行光外差探測(cè)實(shí)驗(yàn)研究。在一定的實(shí)驗(yàn)條件下，對(duì)鏡面與白紙的激光外差實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比分析，并對(duì)粗糙比較樣塊的光外差實(shí)驗(yàn)進(jìn)行分析。結(jié)果表明：目標(biāo)表面的橫向起伏高度與縱向起伏頻率對(duì)外差中頻信號(hào)的影響都非常的強(qiáng)烈；所有的討論結(jié)果對(duì)于分析回波相位分布特征以及目標(biāo)表面的起伏特性