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文檔簡介
1、隨著高度集成的系統(tǒng)芯片SoC(System-On-A-Chip)成為市場主流,微處理器芯片的測試和調(diào)試變得更加復雜。這為傳統(tǒng)的調(diào)試方法帶來以下困難:
1.受SoC處理器的封裝限制,不能將片內(nèi)的微處理器信號引出進行直接地調(diào)試,使得邏輯分析儀等設備無法進行調(diào)試。
2.需要微處理器提供操作系統(tǒng)來支持如插入斷點、設置觀察點等調(diào)試功能。增加了額外的開銷和調(diào)試工具,無法支持內(nèi)核級調(diào)試。
3.對于完全基于RO
2、M的嵌入式系統(tǒng)而言,無法實現(xiàn)軟件斷點的設置和插入條件TRAP指令等調(diào)試功能。
4.在傳統(tǒng)調(diào)試模式下,不能以系統(tǒng)時鐘運行調(diào)試程序,難以定位與時序相關的故障。
為了解決上述問題,本文研究了針對SoC微處理器的JTAG片上調(diào)試系統(tǒng)結構和工作流程以及主流SoC微處理器的調(diào)試原理;探索了開源GDB調(diào)試器的設計與實現(xiàn)、調(diào)試協(xié)議原理和SoPC軟硬件協(xié)同設計技術。
基于上述解決方案和對國內(nèi)外通用調(diào)試器現(xiàn)狀的分析
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