量子進化算法在基于故障模擬的時序電路測試生成中的應用.pdf

1、分類號密級UDC編號桂林電子科技大學碩士學位論文題目量子進化算法在基于故障模擬的時序電路測試生成中的應用（英文）（英文）TheApplicationofQuantumInspiredEvolutionaryAlgithminFaultSimulationBasedATPGofSequentialCircuits研究生姓名:范源遠范源遠指導教師姓名、職務指導教師姓名、職務:李智李智教授教授申請學位門類:工學碩士工學碩士學科、專科、專業(yè):測

2、試計量技術及儀測試計量技術及儀器提交論文日期:2007年4月論文答辯日期:2007年6月2007年6月12日摘要量子進化算法在基于故障模擬的時序電路量子進化算法在基于故障模擬的時序電路測試生成中的應用測試生成中的應用摘要數(shù)字電路的測試生成問題是長期以來制約集成電路發(fā)展的難題，找到有效的數(shù)字電路測試生成方法具有非常重要的理論和現(xiàn)實意義。隨著電路復雜性和集成度的不斷提高，數(shù)字電路的測試已成為妨礙LSIVLSI付諸應用的瓶頸。盡管國內(nèi)外許多學

3、者在數(shù)字電路測試生成上已做了大量的工作，時序電路的測試生成問題仍然沒有完全解決。本文采用基于故障模擬的方法，首次對量子進化算法（QEA）在時序電路測試生成中的應用進行了探索。本文將量子計算中的量子位和疊加態(tài)的概念引入傳統(tǒng)的測試生成算法中，結(jié)合時序電路的特點，建立了時序電路的量子進化算法測試生成模型。在國際標準電路iscas’89上的仿真實驗的結(jié)果表明，與基于GA的同類算法相比，該算法模型可獲得較高的故障覆蓋率和較小的測試矢量集。為了進一