基于量子進化算法的SOC測試結構優(yōu)化研究.pdf

1、隨著現(xiàn)代半導體工藝的發(fā)展,系統(tǒng)芯片(SOC)設計已經(jīng)發(fā)展成為當今的一種主流技術。同時IP核測試復用以及芯片級測試遇到了新的挑戰(zhàn),SOC測試結構也成為業(yè)界研究的焦點。
　　測試訪問機制和核測試包封是SOC測試結構的基礎。本文對基于IEEE P1500環(huán)的測試包封和基于測試總線的測試訪問機制做了研究,包括它們的結構、功能和優(yōu)化,建立相應的數(shù)學模型。
　　在對SOC測試結構研究的基礎上,本文將量子進化算法應用到SOC測試結構優(yōu)化中

2、,結合IP核測試調(diào)度特點,建立了量子進化算法的數(shù)學模型,并從理論上證明算法的收斂性。文章以國際標準片上系統(tǒng)芯片為實驗對象,以減小 SOC測試時間為優(yōu)化目標,通過對量子進化算法中群體尺寸、旋轉(zhuǎn)角度等參數(shù)進行優(yōu)化,確定應用于SOC測試結構優(yōu)化中量子進化算法參數(shù)的初始值。在對SOC測試結構優(yōu)化過程中,通過對群體觀測,決定IP核在測試訪問機制上的分配以及當前群體中的最佳個體。通過改變量子位觀測值對應的概率角,使SOC測試結構優(yōu)化的解逐步趨于最優(yōu)