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文檔簡介
1、隨著集成電路制造工藝和設計水平的飛速發(fā)展,片上系統(tǒng)(System on Chip,SoC)成為當今集成電路設計的一大主流,但是 SoC測試已成為制約其設計的“瓶頸”。目前,很多公司和科研機構(gòu)都進行了大量的探索,關(guān)于SoC測試方面的研究取得了較多的成果。在優(yōu)化SoC測試方面,由于SoC的集成度越來越高,其測試的可行性、測試時間和測試功耗越發(fā)受到關(guān)注。所以,本文在現(xiàn)有 SoC測試優(yōu)化技術(shù)和理論研究的基礎(chǔ)上,針對IP核Wrapper掃描鏈的平
2、衡問題和SoC中IP核測試調(diào)度的優(yōu)化問題做了進一步研究。
在深入研究IEEE1500std的基礎(chǔ)上,針對片上系統(tǒng)(SoC)的IP核Wrapper掃描鏈平衡問題,建立合適的數(shù)學模型,并結(jié)合量子蟻群算法來求解掃描鏈的最優(yōu)組合方式。
在采用量子蟻群算法對IP核Wrapper掃描鏈平衡的前提下,對SoC中IP核測試調(diào)度問題建立無功耗和有功耗約束條件下的數(shù)學模型。對量子蟻群算法進行改進以適應對已建立的兩種數(shù)學模型進行求解。
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