基于蟻群算法的模擬電路測(cè)試模式優(yōu)化.pdf

1、對(duì)于模擬電路的測(cè)試模式來(lái)說(shuō)，測(cè)試節(jié)點(diǎn)集選取的優(yōu)化是一個(gè)關(guān)鍵的步驟。在這篇碩士論文中，一種基于蟻群算法的、測(cè)試節(jié)點(diǎn)選擇優(yōu)化的技術(shù)將被研究。該技術(shù)可以用較少的節(jié)點(diǎn)數(shù)目產(chǎn)生較高的故障檢測(cè)率和隔離率。
　　 一些被用來(lái)選取故障測(cè)試集的算法，例如啟發(fā)式方法，模糊集方法和哈希方法將被討論。這種的概念可以被應(yīng)用在直流故障字典的構(gòu)建中。這些概念也可以被應(yīng)用在故障字典的構(gòu)建。
　　 在本論文討論的蟻群算法中，目標(biāo)函數(shù)由故障檢測(cè)率和故障隔離

2、率組成。故障檢測(cè)率定義為選取的測(cè)試節(jié)點(diǎn)能夠檢測(cè)的故障個(gè)數(shù)除以總的故障數(shù)目；故障隔離率定義為能夠被隔離的故障個(gè)數(shù)除以檢測(cè)出來(lái)的故障數(shù)目。轉(zhuǎn)移概率也被稱作位置改變概率，是自然指數(shù)的-d 次方，d是二維空間不同兩點(diǎn)之間的距離。
　　 更新規(guī)則測(cè)試每個(gè)由蟻群算法生成的最新N個(gè)解。只要N個(gè)解可用，它們的移動(dòng)平均X就可以得到；每個(gè)新的解G都可以用X計(jì)算出來(lái)。如果G的值比X的值低，那么上次解的移動(dòng)軌跡概率就會(huì)被增加，否則降低。