基于蟻群算法的模擬電路測試模式優(yōu)化.pdf

1、對于模擬電路的測試模式來說，測試節(jié)點集選取的優(yōu)化是一個關鍵的步驟。在這篇碩士論文中，一種基于蟻群算法的、測試節(jié)點選擇優(yōu)化的技術將被研究。該技術可以用較少的節(jié)點數(shù)目產生較高的故障檢測率和隔離率。
　　 一些被用來選取故障測試集的算法，例如啟發(fā)式方法，模糊集方法和哈希方法將被討論。這種的概念可以被應用在直流故障字典的構建中。這些概念也可以被應用在故障字典的構建。
　　 在本論文討論的蟻群算法中，目標函數(shù)由故障檢測率和故障隔離

2、率組成。故障檢測率定義為選取的測試節(jié)點能夠檢測的故障個數(shù)除以總的故障數(shù)目；故障隔離率定義為能夠被隔離的故障個數(shù)除以檢測出來的故障數(shù)目。轉移概率也被稱作位置改變概率，是自然指數(shù)的-d 次方，d是二維空間不同兩點之間的距離。
　　 更新規(guī)則測試每個由蟻群算法生成的最新N個解。只要N個解可用，它們的移動平均X就可以得到；每個新的解G都可以用X計算出來。如果G的值比X的值低，那么上次解的移動軌跡概率就會被增加，否則降低。