基于蟻群算法的數(shù)字電路測試模式生成研究.pdf

1、測試生成的目的是縮短測試生成時(shí)間和提高測試質(zhì)量，包括測試模式集的生成和優(yōu)化兩個(gè)關(guān)鍵步驟。數(shù)字電路的復(fù)雜度越來越高，測試生成越來越困難。蟻群算法是一種新穎的進(jìn)化算法，具有正反饋、魯棒性好、并行分布計(jì)算的特點(diǎn)，在一系列組合優(yōu)化問題中已顯出優(yōu)勢。測試生成問題的本質(zhì)是組合優(yōu)化問題，將蟻群算法引入其中，能使測試生成問題的復(fù)雜性得到簡化。本文以航天科工集團(tuán)公司課題：“面向數(shù)字測試的自動(dòng)測試模式生成開發(fā)環(huán)境”為背景，針對(duì)數(shù)字電路測試和故障診斷中的測試

2、生成問題，以基本蟻群算法為基礎(chǔ)，研究數(shù)字電路測試模式的生成和優(yōu)化技術(shù)。具體的研究內(nèi)容可概括為：分析了基本蟻群算法的搜索機(jī)制和集群智能，論證了將蟻群算法引入測試生成的可行性，針對(duì)其易于陷入局部最優(yōu)、參數(shù)設(shè)置需要先驗(yàn)知識(shí)等不足，指出了蟻群算法用于測試生成需要重點(diǎn)考慮的幾個(gè)關(guān)鍵問題。在對(duì)基本蟻群算法的信息素更新機(jī)制等作出適應(yīng)性改造的基礎(chǔ)上，提出了基于改進(jìn)蟻群算法的時(shí)序電路測試生成方法，解決了同步時(shí)序電路測試生成中的寄存器狀態(tài)初始化、故障檢測等