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文檔簡介
1、在高密度、高速度的下工作的SoC(System on Chip)測試中,串?dāng)_故障檢測是必須考慮的問題之一。本文提出一種新的串?dāng)_故障檢測模型,并且設(shè)計出基于 IEEE Std1500協(xié)議的SoC串?dāng)_故障測試矢量生成構(gòu)架,實現(xiàn)高效省時的串?dāng)_故障檢測。
MT故障檢測模型作為一種串?dāng)_故障激勵檢測模型,具有較好的故障覆蓋率,但也存在含有大量矢量冗余的問題。本文建立在傳統(tǒng)的MT(Multi-transition)串?dāng)_故障檢測模型的基礎(chǔ)上,
2、在保證100%故障覆蓋率的前提下,對MT模型存在的大量矢量冗余進行精簡,提出了一種新的激勵檢測模型—改進型MT模型。該模型通過對種子的篩選及施加,測試矢量有規(guī)律跳變,產(chǎn)生了全部的測試矢量。通過軟件仿真及數(shù)據(jù)比較,驗證了改進型MT模型具有可行性及高效性。通過對基于IEEE Std1500標(biāo)準(zhǔn)的測試殼各部分及測試控制器各模塊進行設(shè)計,特別是對測試殼的測試環(huán)單元進行設(shè)計,建立了SoC互連串?dāng)_故障測試矢量生成構(gòu)架,實現(xiàn)了改進型MT模型故障檢測。
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