基于IEEE1500的SoC中存儲器內(nèi)核內(nèi)建自測試設計研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著半導體技術的高速發(fā)展,嵌入式存儲器在SoC(System on Chip,片上系統(tǒng))中所占的面積比重越來越大,這種發(fā)展趨勢在今后將愈發(fā)明顯。在這種情況下,對SoC中的嵌入式存儲器進行高效和準確的測試成為SoC產(chǎn)業(yè)繼續(xù)向前發(fā)展的迫切需求。
　　本文以IEEE1500測試標準為基礎,對SoC中嵌入式存儲器內(nèi)核的內(nèi)建自測試進行研究。文中重點研究了基于IEEE1500標準的IP(Intellectual Property,知識產(chǎn)權)核

2、測試Wrapper,對測試Wrapper的各個組成部分進行詳細的研究和討論,同時根據(jù)設計的實際需求對Wrapper的各個組成部分進行了優(yōu)化設計。文章對MBIST(Memory Built-in Self-test,存儲器內(nèi)建自測試)控制器進行了深入的研究,為了達到測試ROM內(nèi)核的目的,本文將MISR(Multi-Input Signature Register,多輸入線性反饋移位寄器)合理地嵌入到MBIST控制器中,所以本文中的MBIS

3、T控制器可以分別測試SRAM和ROM兩種嵌入式存儲器內(nèi)核,這樣做即提高了測試效率,同時也大大減少了測試的硬件開銷。
　　本文的創(chuàng)新性點是:其一,設計了基于IEEE1500標準,且同時兼容SRAM和ROM核測試的MBIST系統(tǒng);其二,設計了March算法測試指令自動生成系統(tǒng)和ROM數(shù)據(jù)特征值自動生成系統(tǒng);其三,為MBIST系統(tǒng)添加了Avalon系統(tǒng)接口,搭建了基于NIOS II軟核的SOPC(System-on-a-Programm

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