軟件內(nèi)建自測(cè)試中測(cè)試點(diǎn)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、長久以來軟硬件測(cè)試就是彼此獨(dú)立，各自發(fā)展的兩個(gè)領(lǐng)域，兩者之間幾乎沒有任何聯(lián)系。而事實(shí)上軟硬件測(cè)試存在著許多共性，測(cè)試人員也已經(jīng)自發(fā)地應(yīng)用了一些相似的測(cè)試方法，也就是說軟硬件測(cè)試在某種程度上存在一致性。另一方面，軟件規(guī)模越來越大，測(cè)試也越來越困難。為了減輕測(cè)試負(fù)擔(dān)，需要在程序開發(fā)時(shí)就考慮測(cè)試問題，即進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)。 目前，上海大學(xué)計(jì)算機(jī)學(xué)院徐拾義教授主持研究的國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目“軟件內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)(Built-in-self-t

2、estforsoftware，簡(jiǎn)稱軟件BIST)”是軟件測(cè)試研究領(lǐng)域中的一個(gè)新概念。它將硬件測(cè)試中的內(nèi)建自測(cè)試(BIST)的思想移植到軟件測(cè)試和軟件可測(cè)性設(shè)計(jì)研究領(lǐng)域中。軟件BIST系統(tǒng)基本框架包括測(cè)試點(diǎn)(CheckPoint)、模板、自測(cè)試部分和測(cè)試程序。測(cè)試點(diǎn)負(fù)責(zé)向模板中寫入測(cè)試需要的數(shù)據(jù)以供自測(cè)試部分使用，自測(cè)試部分根據(jù)模板信息生成測(cè)試用例，測(cè)試程序完成測(cè)試功能。 作為項(xiàng)目的一部分，本文研究的測(cè)試點(diǎn)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)是軟件BIS

3、T系統(tǒng)的基本工作。測(cè)試點(diǎn)類似于硬件BIST技術(shù)中預(yù)埋的具有測(cè)試功能的附加電路。本文首先系統(tǒng)地總結(jié)了軟件內(nèi)建自測(cè)試的思想，然后在此基礎(chǔ)上把測(cè)試點(diǎn)分為三個(gè)部分進(jìn)行論述： ·針對(duì)C語言程序的單元測(cè)試和集成測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)的設(shè)置策略，即在程序的不同位置插入不同功能的測(cè)試點(diǎn)。因?yàn)椴煌愋偷某绦蚓哂胁煌囊?guī)律，因此，我們要對(duì)各種類型的程序進(jìn)行分析，在此本文總結(jié)了三種類型的測(cè)試點(diǎn)。 ·測(cè)試點(diǎn)的個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì)及其合理性研究。過多過少的測(cè)試點(diǎn)都會(huì)影

4、響以后的測(cè)試。測(cè)試點(diǎn)過多則增加程序的復(fù)雜度，過少則不能體現(xiàn)其作用。針對(duì)以上的矛盾，本文給出了六種解決方案。 ·三類測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和探針函數(shù)的具體實(shí)現(xiàn)。使用程序插裝技術(shù)并借用LEX和YACC工具實(shí)現(xiàn)各測(cè)試點(diǎn)的功能。 軟件內(nèi)建自測(cè)試是軟件測(cè)試中的新生技術(shù)，這種新方法為軟件測(cè)試領(lǐng)域開拓了一個(gè)嶄新的發(fā)展方向，通過將已經(jīng)發(fā)展成熟的硬件內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)(BIST)用于軟件測(cè)試，將有效地提高測(cè)試效率。該方法有著廣闊的發(fā)展前景。