2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語一試題真題（含答案詳解+作文范文）_第1頁
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1、集成電路規(guī)模的擴(kuò)大，集成度的提高導(dǎo)致測(cè)試電路所需的測(cè)試向量空間指數(shù)級(jí)爆炸，如何在有限的時(shí)間和資源條件下對(duì)電路達(dá)到所需的測(cè)試效果是目前面臨的一個(gè)重要的問題。集成電路設(shè)計(jì)越來越復(fù)雜，使用硬件描述語言設(shè)計(jì)復(fù)雜集成電路成為一種趨勢(shì)，從EDA技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)上看，直接采用C語言設(shè)計(jì)CPLD/FPGA將是一個(gè)發(fā)展方向。軟件測(cè)試中已經(jīng)有很多很成熟的測(cè)試數(shù)據(jù)生成的方法，將軟件測(cè)試的方法引入到用硬件描述語言所設(shè)計(jì)的電路的測(cè)試中來可以對(duì)電路測(cè)試達(dá)到很好的效果

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