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文檔簡介
1、當今集成電路技術進入亞微米甚至深亞微米時代,電路的集成度飛速提高,其測試也面臨著越來越多的困難。由于BIST(Built-In Self-Test,內(nèi)建自測試)技術是在集成電路芯片內(nèi)部完成自測試的,具有全速測試,容易維護等優(yōu)點。因此該技術能有效解決數(shù)字電路的測試問題。但BIST技術也存在缺點:采用隨機測試時,測試長度很容易就過長;對某些隨機難測故障,也很難有滿意的故障覆蓋率。
本文針對上述 BIST測試生成技術存在的問題,在現(xiàn)
2、有測試的基礎上提出一種基于加權 CA(Cellular Automata,細胞自動機)和多目標進化算法的新測試生成方法。相比傳統(tǒng)的測試方法而言,該方法在減少測試矢量長度的同時不損失故障覆蓋率。采用基于加權CA結構生成的測試矢量可以檢測到一些電路中的難測故障,以此減少測試長度;在此基礎上采取讓測試序列的集合中各測試碼之間的海明距離最大化,這樣就可以使每一個測試向量檢測到更多的不同故障,從而保證提高故障覆蓋率。本文通過對多目標進化算法的深入
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