一種基于受控LFSR的內(nèi)建自測試結(jié)構(gòu)及其測試向量生成.pdf

1、本文首先介紹了集成電路測試和可測性設(shè)計(jì)，隨后闡述了內(nèi)建自測試以及如何使用LFSR(線性反饋移位寄存器)進(jìn)行內(nèi)建自測試，接著本文提出了一種基于受控LFSR的內(nèi)建自測試結(jié)構(gòu)及其測試向量生成算法。 在這種結(jié)構(gòu)中，控制單元通過內(nèi)部存儲(chǔ)器中儲(chǔ)存的控制碼控制LFSR的運(yùn)行。在偽隨機(jī)測試向量生成模式下，受控LFSR不僅能夠順序的生成偽隨機(jī)測試向量而且能夠使得向量進(jìn)行跳變生成，所以對故障覆蓋率不做貢獻(xiàn)的測試向量將在測試過程中被跳過。在確定性測試

2、向量生成模式下，確定性的測試向量被壓縮成控制碼，這些控制碼再通過受控LFSR在test-per-clock模式下生成內(nèi)建自測試的確定性測試向量集。 在本文的后面部分，提出了這種結(jié)構(gòu)進(jìn)行內(nèi)建自測試的相應(yīng)算法。在生成偽隨機(jī)測試向量的情況下，首先使用模擬退火算法來將原始的偽隨機(jī)測試序列分組成一些子序列。然后使用向量跳變算法生成控制碼，這些控制碼使得LFSR順序生成偽隨機(jī)測試向量或者使得向量進(jìn)行跳變生成。在生成確定性測試向量的情況下，使

3、用向量匹配算法將確定性測試向量集壓縮成控制碼，所生成的控制碼存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，并將其加載到工作在移位存儲(chǔ)模式下的LFSR上，進(jìn)行確定性測試向量的生成。 所有的算法都使用C語言進(jìn)行實(shí)現(xiàn)并且在工作站上使用ISCAS基準(zhǔn)電路進(jìn)行模擬。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明使用受控LFSR進(jìn)行內(nèi)建自測試可以在滿足故障覆蓋率的條件下顯著的降低測試成本。與普通的偽隨機(jī)內(nèi)建自測試相比，這種結(jié)構(gòu)可以通過增加極少的硬件開銷獲得測試時(shí)間的大量降低。與普通的確定性內(nèi)建自測試相比