一種基于受控LFSR的內(nèi)建自測試結構及其測試向量生成.pdf

1、本文首先介紹了集成電路測試和可測性設計，隨后闡述了內(nèi)建自測試以及如何使用LFSR(線性反饋移位寄存器)進行內(nèi)建自測試，接著本文提出了一種基于受控LFSR的內(nèi)建自測試結構及其測試向量生成算法。 在這種結構中，控制單元通過內(nèi)部存儲器中儲存的控制碼控制LFSR的運行。在偽隨機測試向量生成模式下，受控LFSR不僅能夠順序的生成偽隨機測試向量而且能夠使得向量進行跳變生成，所以對故障覆蓋率不做貢獻的測試向量將在測試過程中被跳過。在確定性測試

2、向量生成模式下，確定性的測試向量被壓縮成控制碼，這些控制碼再通過受控LFSR在test-per-clock模式下生成內(nèi)建自測試的確定性測試向量集。 在本文的后面部分，提出了這種結構進行內(nèi)建自測試的相應算法。在生成偽隨機測試向量的情況下，首先使用模擬退火算法來將原始的偽隨機測試序列分組成一些子序列。然后使用向量跳變算法生成控制碼，這些控制碼使得LFSR順序生成偽隨機測試向量或者使得向量進行跳變生成。在生成確定性測試向量的情況下，使

3、用向量匹配算法將確定性測試向量集壓縮成控制碼，所生成的控制碼存儲在存儲器中，并將其加載到工作在移位存儲模式下的LFSR上，進行確定性測試向量的生成。 所有的算法都使用C語言進行實現(xiàn)并且在工作站上使用ISCAS基準電路進行模擬。實驗結果表明使用受控LFSR進行內(nèi)建自測試可以在滿足故障覆蓋率的條件下顯著的降低測試成本。與普通的偽隨機內(nèi)建自測試相比，這種結構可以通過增加極少的硬件開銷獲得測試時間的大量降低。與普通的確定性內(nèi)建自測試相比