基于可配置二維LFSR的邏輯內建自測試方法研究.pdf

1、分類號密級UDCUDC編號桂林電子科技大學碩士學位論文碩士學位論文題目:題目:基于可配置二維LFSR的邏輯內建自測試方法研究基于可配置二維LFSR的邏輯內建自測試方法研究（英文）（英文）ConfigurableTwoDimensionalLinearFeedbackShiftRegisterBasedonLogicBuiltInSelfTestResearch研究生姓名:何艷梅研究生姓名:何艷梅指導教師姓名、職務:雷加教授指導教師姓名、

2、職務:雷加教授申請學科門類:工學碩士申請學科門類:工學碩士學科、專業(yè):檢測技術與自動化裝置學科、專業(yè):檢測技術與自動化裝置提交論文日期:2010年4月提交論文日期:2010年4月論文答辯日期:2010年6月論文答辯日期:2010年6月年月日摘要I摘要隨著集成電路設計和制造水平的不斷提高，測試面臨著越來越多的困難，可測性設計(DFT)成為解決測試問題的主要手段。其中，內建自測試（BIST）能在芯片內部完成自測試，使產品的設計周期縮短，是一

3、種有效的DFT方案。目前，對BIST研究主要集中在測試生成方法上，研究目標在于減小硬件開銷，提高故障覆蓋率，縮短測試時間等。二維線性移位寄存器作為測試生成器，無需存儲測試矢量，通過可配置的方案，能生成期望的測試矢量，這些矢量包括：隨機矢量(用于檢測隨機可檢測故障)和確定性矢量(用于檢測抗隨機性故障）。本文研究了基于二維線性移位寄存器的測試生成技術，并結合確定性和隨機性測試生成技術的優(yōu)點，設計了基于二維線性移位寄存器(2DLFSR)的BI

4、ST系統。該設計包含兩大部分：2DLFSR結構優(yōu)化設計和基于2DLFSR的BIST系統設計。對于2DLFSR結構，提出了基于矩陣的優(yōu)化設計方法，將期望的測試集劃分為互不相容的相容輸入集，再通過搜索最大相關項來確定可配置2DLFSR的最優(yōu)化結構以最小硬件開銷生成預先計算的矢量。對于BIST系統的設計，選用了按時鐘測試的測試方式，以2DLFSR作為BIST的矢量生成器(TPG)以16位的多輸入特征分析器將測試響應數據壓縮為特征，使數字系統的