兩類(lèi)特定路徑覆蓋測(cè)試數(shù)據(jù)生成問(wèn)題的建模及進(jìn)化求解.pdf

1、軟件測(cè)試是保證軟件質(zhì)量的重要手段。測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)生成技術(shù)可以提高軟件測(cè)試效率，降低軟件開(kāi)發(fā)成本。面向路徑覆蓋的測(cè)試數(shù)據(jù)生成是軟件測(cè)試中的一個(gè)重要方向，近年來(lái)，人們對(duì)該問(wèn)題進(jìn)行了深入的研究。對(duì)于常規(guī)的軟件，已有方法多針對(duì)單條或少數(shù)幾條目標(biāo)路徑的測(cè)試數(shù)據(jù)生成問(wèn)題，而實(shí)際應(yīng)用中大規(guī)模路徑普遍存在，已有方法很難有效解決，所以有必要提出有效的多路徑覆蓋測(cè)試數(shù)據(jù)生成方法，以滿足軟件測(cè)試的需求。另外，對(duì)于含有隨機(jī)數(shù)的軟件，傳統(tǒng)的測(cè)試準(zhǔn)則不再奏效。因此，

2、本文給出了兩類(lèi)特定路徑覆蓋測(cè)試數(shù)據(jù)生成問(wèn)題的模型和進(jìn)化求解方法。
　　本研究主要內(nèi)容包括：⑴針對(duì)常規(guī)軟件的路徑覆蓋問(wèn)題，本文提出了基于局部進(jìn)化遺傳算法的測(cè)試數(shù)據(jù)生成方法。建立了多路徑覆蓋問(wèn)題的數(shù)學(xué)模型，采用粗粒度評(píng)價(jià)函數(shù)作為目標(biāo)函數(shù)；提出了基于局部進(jìn)化的遺傳算法解決優(yōu)化問(wèn)題，在算法的進(jìn)化過(guò)程中，根據(jù)目標(biāo)函數(shù)對(duì)個(gè)體分組，對(duì)每組個(gè)體實(shí)施進(jìn)化操作之后，采用細(xì)粒度的評(píng)價(jià)函數(shù)進(jìn)行選擇個(gè)體。通過(guò)在算法的不同階段使用不同粒度的評(píng)價(jià)函數(shù)，提高了測(cè)