瞬態(tài)電流測試生成及故障模擬研究.pdf

1、數(shù)字電路測試主要有電壓測試和電流測試兩種方法。關(guān)于電壓測試的研究已日趨完善并在工業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用。電流測試方法可作為電壓測試方法的補充手段，有效地提高電路的可靠性。瞬態(tài)電流測試方法可以測試一些其他測試方法無法檢測的故障，進(jìn)一步提高故障覆蓋率。本文采用啟發(fā)式搜索的方法，基于對FAN算法的分析，在不考慮冒險的情況下對于CMOS電路中的開路故障，探討了利用FAN算法進(jìn)行瞬態(tài)電流測試生成的可能性。文中定義了三種不同的D前沿，并將測試生成分為

2、三個部分：1、激活故障，2、使無故障電路和故障電路的瞬態(tài)電流差別最大化，3、減少旁路的影響。實驗結(jié)果說明，在不考慮冒險的情況下，將FAN算法應(yīng)用于瞬態(tài)電流測試產(chǎn)生是可行的。由于制造設(shè)備本身存在微小誤差，具體門的延時并不相同，而是在一定范圍內(nèi)變化，引起波形變化的時間不確定。本文采用一個四維立方(v，f，h_1，h_0)來表示信號線ι在某一時間段內(nèi)的波形并給出了所有門電路的輸出立方計算方法。利用測試生成的向量對，采用瞬態(tài)電流測試方法對開路故