用于瞬態(tài)電流測試的測試向量對(duì)壓縮技術(shù)研究.pdf

1、本文為了減少用于檢測開路故障的測試向量對(duì)容量，首先提出了一種BIST混合測試策略對(duì)其進(jìn)行種子壓縮。這種BIST混合測試策略由兩部分組成：1)偽隨機(jī)測試和2)確定型測試。通過使用修改后的線性反饋移位寄存器(LFSR)作為BIST電路中的向量對(duì)產(chǎn)生器，不僅可以由一個(gè)隨機(jī)的LFSR狀態(tài)不斷地產(chǎn)生偽隨機(jī)測試向量對(duì)，還可以將一部分用于檢測電路難測開路故障的向量對(duì)壓縮成容量更小的LFSR狀態(tài)種子集合。實(shí)驗(yàn)表明本策略可以大大減少測試向量對(duì)容量，而且所

2、需代價(jià)不大。 接著本文又提出一種游程編碼壓縮策略對(duì)測試向量對(duì)集合進(jìn)行壓縮，這是一種與BIST混合測試策略完全不同的壓縮方法。這種游程編碼壓縮策略的貢獻(xiàn)有三：1)提出了一種可以提高壓縮率的向量對(duì)測試順序排列方法，我們稱之為二次排序算法；2)提出了一種新的游程編碼壓縮方案，它和現(xiàn)有幾種流行的游程編碼壓縮方案比較，可以提高向量對(duì)集合的壓縮率；3)給出了一個(gè)代價(jià)不大的解碼器結(jié)構(gòu)，它可以方便地集成到被測電路中，且不會(huì)影響電路本身的性能。實(shí)