VLSI自動測試向量生成技術研究.pdf

1、隨著科學技術的日益進步，許多可測性設計方法得到廣泛研究并應用于提高集成電路的測試質(zhì)量和降低成本。內(nèi)建自測試方法是其中研究較為深入且使用較為廣泛的一種，該方法是指一個系統(tǒng)對自己進行測試的技術和電路配置，具有測試復雜度低、測試時間短、故障覆蓋率高等優(yōu)點，已經(jīng)逐漸成為今后研究的一個重點方向。
　　 本文深入研究了數(shù)字電路的故障模型、測試的基本理論、自動測試向量生成的各種算法，尤其在深入研究確定性測試生成算法—PODEM算法的基礎上，設

2、計開發(fā)了一個用于研究測試向量的數(shù)字電路測試生成平臺。該平臺通過讀入電路的網(wǎng)表文件來分析電路結構，計算電路各節(jié)點的可控性和可觀性，并進一步為電路生成確定性的測試向量，同時給出了測試向量集的故障覆蓋率。
　　 其次，在此測試生成平臺的基礎上，本文還研究了內(nèi)建自測試向量生成方法，詳細分析了LFSR生成偽隨機序列的方法，給出了LFSR反饋形式與初始狀態(tài)的選擇方法。并對LFSR進行改進使其能夠得到包含全零狀態(tài)在內(nèi)的完全偽隨機序列。為了剔除