VLSI自動(dòng)測(cè)試向量生成技術(shù)研究.pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步，許多可測(cè)性設(shè)計(jì)方法得到廣泛研究并應(yīng)用于提高集成電路的測(cè)試質(zhì)量和降低成本。內(nèi)建自測(cè)試方法是其中研究較為深入且使用較為廣泛的一種，該方法是指一個(gè)系統(tǒng)對(duì)自己進(jìn)行測(cè)試的技術(shù)和電路配置，具有測(cè)試復(fù)雜度低、測(cè)試時(shí)間短、故障覆蓋率高等優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)逐漸成為今后研究的一個(gè)重點(diǎn)方向。
　　 本文深入研究了數(shù)字電路的故障模型、測(cè)試的基本理論、自動(dòng)測(cè)試向量生成的各種算法，尤其在深入研究確定性測(cè)試生成算法—PODEM算法的基礎(chǔ)上，設(shè)

2、計(jì)開發(fā)了一個(gè)用于研究測(cè)試向量的數(shù)字電路測(cè)試生成平臺(tái)。該平臺(tái)通過讀入電路的網(wǎng)表文件來分析電路結(jié)構(gòu)，計(jì)算電路各節(jié)點(diǎn)的可控性和可觀性，并進(jìn)一步為電路生成確定性的測(cè)試向量，同時(shí)給出了測(cè)試向量集的故障覆蓋率。
　　 其次，在此測(cè)試生成平臺(tái)的基礎(chǔ)上，本文還研究了內(nèi)建自測(cè)試向量生成方法，詳細(xì)分析了LFSR生成偽隨機(jī)序列的方法，給出了LFSR反饋形式與初始狀態(tài)的選擇方法。并對(duì)LFSR進(jìn)行改進(jìn)使其能夠得到包含全零狀態(tài)在內(nèi)的完全偽隨機(jī)序列。為了剔除