數(shù)字集成電路自動測試硬件技術(shù)研究.pdf

1、隨著經(jīng)濟發(fā)展和技術(shù)的進步，集成電路（Integrated Circuit，IC）產(chǎn)業(yè)取得了突飛猛進的發(fā)展。集成電路測試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中的一個重要環(huán)節(jié)，是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。集成電路測試是集成電路產(chǎn)業(yè)的一門支撐技術(shù)，而集成電路自動測試設(shè)備（Automatic Test Equipment，ATE）是實現(xiàn)集成電路測試必不可少的工具。
　　 基于上述考慮，以本課題為研究基礎(chǔ)，開展研制集成電路自動測試設(shè)備的工作，擬在

2、集成電路測試產(chǎn)業(yè)中縮短與國外的差距。課題研制的數(shù)字集成電路測試設(shè)備能基本上滿足測試數(shù)字集成電路需求，同時又具有操作方便，實用性強，價格相對低廉等特點，這能給中小型的集成電路封裝廠商減少大筆費用。
　　 本文首先介紹了集成電路自動測試系統(tǒng)的國內(nèi)外研究現(xiàn)狀，討論了集成電路測試面臨的技術(shù)難題，接著介紹了數(shù)字集成電路的測試技術(shù)，包括邏輯功能測試技術(shù)和直流參數(shù)測試技術(shù)。邏輯功能測試技術(shù)介紹了測試向量的格式化作為輸入激勵和對輸出結(jié)果的采樣；

3、直流參數(shù)測試技術(shù)講述了開路短路、輸入漏電流和輸出電壓的測試方法。
　　 第三、四章是本文的重點章節(jié)，詳細(xì)講解了自動測試儀的核心部件--數(shù)字集成電路測試板的設(shè)計原理。在數(shù)字測試板中，邏輯功能測試分為三個部分：用于存儲測試向量和測試結(jié)果的存儲器；基于現(xiàn)場可編輯門陣列（Field
　　 Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA）設(shè)計的控制邏輯電路；電子引腳。直流參數(shù)測試中包含有：數(shù)模轉(zhuǎn)換器；精密測試單元（Pre

4、cision Measurement Unit，PMU）；模數(shù)轉(zhuǎn)換器。第四章節(jié)的末節(jié)還介紹對數(shù)字集成電路測試板中的直流參數(shù)測試單元進行校準(zhǔn)的處理過程。
　　 論文的最后部分，講述了對一款典型的數(shù)字集成電路器件進行測試設(shè)計，并得到結(jié)果。在設(shè)計實驗過程中，該款芯片按照器件手冊書要求基于研制的數(shù)字集成電路自動測試儀上進行邏輯功能測試設(shè)計和直流參數(shù)測試設(shè)計，邏輯功能測試中選擇自動測試儀的最高測試頻率運行測試向量，再對被測芯片的五個直流參