基于電流測試的CMOS SRAM測試方法研究.pdf

1、CMOS SRAM作為IC領(lǐng)域中一個極為重要的部分,其測試研究工作對于保證集成電路產(chǎn)品的質(zhì)量具有重要的實際應(yīng)用價值。傳統(tǒng)的基于電壓測試的測試方法已得到了廣泛的應(yīng)用,但這種方法仍然無法有效地檢測某些故障。作為電壓測試方法的補充,電流測試方法能夠提高故障覆蓋率和產(chǎn)品的可靠性。動態(tài)電流提供了一個觀測電路內(nèi)部開關(guān)性能的新窗口,動態(tài)電流測試方法為進一步提高故障覆蓋率提供了可能。
　　本文在深入研究SRAM結(jié)構(gòu)原理、工作原理的基礎(chǔ)上,設(shè)計了4

2、-bit X4-bit CMOS SRAM,作為對SRAM進行動態(tài)電流測試研究的基礎(chǔ)電路。在深刻理解SRAM故障模型基礎(chǔ)上,通過故障注入和轉(zhuǎn)換寫操作或者讀操作,完成了對SRAM開路故障、短路故障、圖形敏感故障的故障模擬。通過HSPICE軟件觀測了故障單元與無故障單元的動態(tài)電源電流波形。通過比較二者的動態(tài)電源電流波形圖說明了用動態(tài)電流檢測CMOS SRAM故障是可行的。在此基礎(chǔ)上設(shè)計了SRAM電流可測試性結(jié)構(gòu),以有效地檢測CMOS SRA