I-,DDT-動態(tài)電流測試方法研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、該文通過SPICE實驗研究數(shù)字電路動態(tài)電流的特性,分析了數(shù)字電路的動態(tài)電流與電路邏輯狀態(tài)轉(zhuǎn)變之間的關(guān)系.根據(jù)實驗結(jié)果,該文提出一種根據(jù)CMOS電路中加權(quán)邏輯跳變數(shù)來估計整個電路平均動態(tài)電流大小的方法.該方法在電路邏輯跳變與電路動態(tài)電流之間建立了一種簡單直觀的關(guān)系,使得動態(tài)電流測試產(chǎn)生能夠在邏輯級上得以實現(xiàn).在此基礎(chǔ)上,該文對一種基于布爾過程的動態(tài)電流測試方法進行改進,用波形模擬器程序?qū)崿F(xiàn)了該方法.并且針對一個實際電路中的部分故障用該方法

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