電磁敏感度測(cè)試的大電流注入技術(shù)研究.pdf_第1頁(yè)
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1、大電流注入技術(shù)作為評(píng)估電磁干擾環(huán)境中電子系統(tǒng)性能的重要手段,是一種替代標(biāo)準(zhǔn)輻射場(chǎng)敏感度測(cè)試的測(cè)試方法,一直以來(lái)都被作為電磁兼容中抗干擾測(cè)試或敏感度測(cè)試的一種基本概念和方法。因其具有良好的重復(fù)性而且簡(jiǎn)單實(shí)用,在商業(yè)、航空與軍事電磁兼容(EMC)等測(cè)試領(lǐng)域得到了普遍承認(rèn)。本文主要從傳輸線理論和等效電路兩個(gè)方面研究了對(duì)于導(dǎo)線和電子功能部件等的大電流注入技術(shù)和測(cè)試方法。
  本文利用傳輸線分析方法中主要的三種模型推導(dǎo)了具有外激勵(lì)源的電報(bào)方

2、程,然后分別對(duì)輻射照射法、大電流注入法進(jìn)行了理論分析,推導(dǎo)了這兩種測(cè)試方法在終端開路和終端為一般負(fù)載兩種情況下的等效性條件。理論推導(dǎo)表明,為了達(dá)到兩種測(cè)試方法的等效性,探頭注入電壓需要滿足一定的條件,而且與頻率、傳輸線長(zhǎng)度和注入探頭的位置等參數(shù)有關(guān)。另外,將電流注入探頭置于傳輸線的中間位置,當(dāng)傳輸線一端的終端負(fù)載和傳輸線匹配時(shí),無(wú)論另一端負(fù)載如何,探頭注入滿足相應(yīng)條件的電壓就可以使大電流注入法與輻射照射法等效。在一般情況下,可以采用雙電

3、流注入的方式,使得兩種方法等效。
  本文對(duì)電流注入探頭進(jìn)行了電路建模并對(duì)大電流注入試驗(yàn)進(jìn)行了電路仿真。從注入探頭的材料(軟磁鐵氧體)角度出發(fā)分析了它的復(fù)數(shù)磁導(dǎo)率、磁譜和截止頻率等特有屬性,然后提出了電流注入探頭的集總參數(shù)電路模型,得到了注入探頭的頻率響應(yīng)。最后采用軟件ADS對(duì)大電流注入法進(jìn)行了電路仿真。仿真結(jié)果表明電流注入探頭的位置、終端負(fù)載的大小以及傳輸線的長(zhǎng)度都是大電流注入試驗(yàn)中至關(guān)重要的參數(shù),這些試驗(yàn)條件的改變將對(duì)結(jié)果產(chǎn)生

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