數(shù)模混合電路的測(cè)試與故障診斷的研究.pdf

1、隨著數(shù)模混合信號(hào)電路的發(fā)展,使數(shù)?；旌闲盘?hào)電路的故障檢測(cè)與診斷面臨極大的挑戰(zhàn).由于目前的方法主要是針對(duì)數(shù)字或模擬電路進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試和診斷,并不能有效的處理日益復(fù)雜的電路結(jié)構(gòu),因此對(duì)數(shù)?；旌想娐窚y(cè)試和診斷的研究具有重要的實(shí)際意義.本文運(yùn)用離散事件系統(tǒng)理論來(lái)進(jìn)行數(shù)?；旌想娐返墓收蠝y(cè)試和診斷,它的應(yīng)用主要體現(xiàn)在以下幾方面:(1)檢驗(yàn)電路的可測(cè)試性;(2)計(jì)算最小測(cè)試集;(3)找出電路的可測(cè)試度.本文分別對(duì)以上三個(gè)方面做了深入的討論.本文的主要工

2、作及取得的成果如下: ●建立基于離散事件系統(tǒng)理論的故障診斷的數(shù)學(xué)模型,進(jìn)行電路可測(cè)試性的分析以及求解故障隔離率等.闡明了利用離散事件系統(tǒng)理論進(jìn)行數(shù)模混合電路的可測(cè)試性和故障診斷的可行性. ●在混合電路測(cè)試和故障診斷中,最小測(cè)試集的求取是重點(diǎn)和難點(diǎn).針對(duì)該問(wèn)題,本文在深入研究粗糙集理論的基礎(chǔ)上,提出了利用區(qū)分矩陣和區(qū)分函數(shù)來(lái)提取最小測(cè)試集的約簡(jiǎn)算法,試驗(yàn)結(jié)果表明該算法在保證故障覆蓋率的前提下,能夠有效的優(yōu)化測(cè)試向量.