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1、在真空紫外和軟X射線(XUV)光柵光譜儀系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和優(yōu)化中,尤其在掠入射或接收角較大的情況下,像差是影響儀器分辨率的重要因素。目前,國(guó)際上存在的XUV平面對(duì)稱光學(xué)系統(tǒng)的像差理論大多針對(duì)單元件系統(tǒng),而實(shí)際應(yīng)用中,XUV光學(xué)裝置都是由若干元件組合而成。在多元件軸對(duì)稱光學(xué)系統(tǒng)中,由于像差對(duì)孔徑光線坐標(biāo)的影響較小,因此孔徑光線坐標(biāo)通常都采用線性近似處理。但對(duì)于平面對(duì)稱光學(xué)系統(tǒng)而言,光線是斜入射的,因此,像差對(duì)光線孔徑坐標(biāo)的影響通常比較嚴(yán)重;另一
2、方面,在計(jì)算多元件系統(tǒng)的波像差時(shí),如果孔徑光線坐標(biāo)采用線性近似,則系統(tǒng)波像差具有簡(jiǎn)單的表達(dá)形式,所以我們有必要研究孔徑光線線性近似下像差精度的有效性。 本文具體研究?jī)?nèi)容及結(jié)果如下: 1、在平面對(duì)稱衍射理論的基礎(chǔ)上考慮折射率的影響,推導(dǎo)了平面對(duì)稱折射光學(xué)系統(tǒng)的像差,結(jié)果使得反射、衍射、折射光學(xué)系統(tǒng)的像差系數(shù)可以用同一組公式表達(dá);當(dāng)入瞳沿光軸偏離光學(xué)元件表面時(shí),修正了單元件波像差系數(shù)以及像差系數(shù)。 2、在計(jì)算雙元件平
3、面對(duì)稱光學(xué)系統(tǒng)的波像差時(shí),采用擬合法得到孔徑光線在兩塊元件之間的三階傳輸方程;結(jié)合光線追跡解析法,推導(dǎo)出精確的像差系數(shù)表達(dá)式,并參考單元件波像差系數(shù),將像差表達(dá)式轉(zhuǎn)換成雙元件波像差形式。最后分析了像差式的結(jié)果,并將其總結(jié)為兩部分:1)孔徑光線線性近似下的像差系數(shù);2)孔徑光線高階形式下的像差系數(shù)修正項(xiàng)(包括離焦部分的高階修正項(xiàng))。 3、結(jié)合光線追跡程序SHADOW和像差表達(dá)式結(jié)果對(duì)光柵光譜儀模型進(jìn)行數(shù)值驗(yàn)證。結(jié)果表明:1)在離焦
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