存儲器鄰域模型敏感失效測試算法的改進(jìn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速深入發(fā)展，隨機(jī)存儲器記憶體容量越來越大。隨機(jī)存儲器記憶體的測試驗證需要越來越多可行的失效模型和有效的測試算法。鄰域模型敏感失效是一種復(fù)雜的，消耗較長測試時間的失效類型。 基于對存儲器記憶體的鄰域模型敏感失效模式的分析，本文提出了一種改進(jìn)的測試算法，采用Tiling方法，按照-定的測試向量變化的順序，通過讀寫操作實現(xiàn)鄰域模型敏感失效的測試，可檢測所有的三種第一型鄰域模型敏感失效：靜態(tài)型，被動型和主動型鄰域模型敏

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