版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、本文從存儲(chǔ)器技術(shù)的發(fā)展和分類開始,對(duì)存儲(chǔ)器的性能、指標(biāo)、故障模式和基本測(cè)試方法等做了系統(tǒng)闡述,針對(duì)DDR測(cè)試的不同層次,分別提出了基于板級(jí)的DDR測(cè)試方案、基于專用存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的DDR測(cè)試方法和基于ETS770邏輯測(cè)試系統(tǒng)的DDR測(cè)試方案?;诎寮?jí)的DDR測(cè)試方案,主要面向的是設(shè)計(jì)使用,對(duì)DDR接口驅(qū)動(dòng)、控制信號(hào)、高速工作等部分進(jìn)行試驗(yàn)和測(cè)試,測(cè)試的是器件的實(shí)際使用性能。而基于專用存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的DDR測(cè)試方法,主要面向的是產(chǎn)品生產(chǎn)
2、和用戶驗(yàn)收,對(duì)器件的功能和交直流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試比較全面?;贓TS770邏輯測(cè)試系統(tǒng)的DDR測(cè)試方案則是面向用戶的驗(yàn)收和可靠性測(cè)試。目前國(guó)內(nèi)用戶要開展對(duì)DDR SDRAM的驗(yàn)收和可靠性測(cè)試的研究受到很大的限制,為解決這個(gè)問題,本文在無專用的存儲(chǔ)器測(cè)試圖形發(fā)生器的支持下,利用程序方法進(jìn)行了測(cè)試向量的自動(dòng)生成,在對(duì)生成的測(cè)試向量進(jìn)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換和少量手工修改后,實(shí)現(xiàn)了對(duì)DDR SDRAM幾種存儲(chǔ)器圖形的測(cè)試。利用DDR SDRAM存儲(chǔ)器的
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 存儲(chǔ)器測(cè)試方法的研究與測(cè)試程序的實(shí)現(xiàn).pdf
- MicroSD存儲(chǔ)器測(cè)試方法研究.pdf
- 相變存儲(chǔ)器測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)的研究.pdf
- 高速DDR存儲(chǔ)器子系統(tǒng)的設(shè)計(jì).pdf
- 嵌入式存儲(chǔ)器的測(cè)試方法研究與實(shí)現(xiàn).pdf
- 存儲(chǔ)器測(cè)試算法研究及應(yīng)用實(shí)現(xiàn).pdf
- Flash存儲(chǔ)器故障模型及測(cè)試方法研究.pdf
- ddr3存儲(chǔ)器行業(yè)深度報(bào)告
- 如何實(shí)現(xiàn)fpga到ddr3sdram存儲(chǔ)器的連接
- ddr3存儲(chǔ)器行業(yè)深度報(bào)告
- 存儲(chǔ)器測(cè)試算法與實(shí)現(xiàn).pdf
- 新型存儲(chǔ)器老化測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn).pdf
- 存儲(chǔ)器測(cè)試算法研究與應(yīng)用實(shí)現(xiàn).pdf
- 相變隨機(jī)存儲(chǔ)器電特性測(cè)試方法研究.pdf
- 相變存儲(chǔ)器單元高速擦寫測(cè)試方法研究.pdf
- 兼容標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝存儲(chǔ)器的實(shí)現(xiàn)與測(cè)試.pdf
- 基于邊界掃描的存儲(chǔ)器測(cè)試研究.pdf
- 存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試及內(nèi)核功能測(cè)試研究
- windows 2000實(shí)現(xiàn)屏蔽usb移動(dòng)存儲(chǔ)器的方法
- 相變存儲(chǔ)器測(cè)試芯片測(cè)試技術(shù)研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論