afm.ipc208b型原子力顯微鏡的改進(jìn)及其在納米材料學(xué)方面的應(yīng)用_第1頁
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1、重慶大學(xué)碩士學(xué)位論文AFM.IPC208B型原子力顯微鏡的改進(jìn)及其在納米材料學(xué)方面的應(yīng)用姓名：陳昌水申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：碩士專業(yè)：理論物理指導(dǎo)教師：王銀峰20070420重慶大學(xué)碩士學(xué)位論文英文摘要ABSTRACTTheappearingofthefirstSTMin1982makeshumanbeingbeabletoobservethearrangementofasingleatomonthematerial‘ssurfacehoweve

2、rithasalotOflimitationsthatitisonlyusedtoobserveandresearchonthesurfacagofconductorandsemiconductorSOtheAFMhadbeencomeoutWiththerapidprogressintechnologyduringthepastmorethantenyears，AFMestablishesitsstatusasakindofsurfa

3、ceanalyzedapparatusdependingonnanometerlevelresolutionandunlimitedconductionofsamples，anditsapplicationalsoattractsmoreandmoreattentionwiththeimprovingofnanotechniqueBecauseofitsstabilizationconvenient，theexcellentqualit

4、yofthepicture，peoplecollcelnmoreaboutitsapplicationareaandindustrialization11lepaperfirstlyintroducesthedevelopmentofAtomicForceMicroscopyandthefoundationalprinciplesofAFMandthenmakeagoodexpatiateofthewholesystemoftheAFM

5、IPC208BdevelopedbyChongqingUniversityIthasbroughtsomesuggestionstotheproblemsindevelopmentandexperimentBecausetheprobeplaysanimportantroleinexperiment，thepaperemphasizesparticularlyonitspreparationandoptimizationInnanoma

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