超聲波探傷操作

1、超聲波探傷操作,質(zhì)量部2011.3.23,前 言,探傷目的：檢查焊縫是否存在氣孔、裂紋、未焊透、未熔合等內(nèi)部缺陷使用標準：GB11345-89（適用于鋼焊縫手工超聲波探傷）使用儀器：CTS-2020汕頭數(shù)字超聲探傷儀,目錄,1、工作原理2、熟悉儀器面板3、準備工作4、探傷操作及缺陷的判定5、整理工作,工作原理,脈沖反射法探傷原理超聲波具有方向性好、能量高、能在界面上產(chǎn)生反射、穿透能力強等特性，利用這些特性，通過超聲

2、波探頭發(fā)射脈沖波到被檢工件內(nèi)，根據(jù)反射波的情況來檢測工件是否存在缺陷及測量缺陷的大小！,返回,儀器面板介紹,返回,指示燈,主菜單,增益功能鍵,特殊功能鍵,調(diào)節(jié)功能鍵,電源鍵,選擇功能鍵,,,,,,,,準備工作,1、探頭的選擇2、使用的試塊3、儀器的調(diào)校4、其他輔助工具5、對焊縫情況的了解,返回,探頭的選擇,1、斜探頭型號 2.5Z8*12K3,,,,頻率2.5MHz,晶片尺寸8*12mm,折射角β

3、的正切值tanβ=3,2、探頭的選擇 探傷前應(yīng)根據(jù)被檢對象的形狀、衰減和技術(shù)要求來選 擇探頭。探頭的選擇包括探頭型式、頻率、晶片尺寸和 斜探頭K值的選擇等 , K值一般情況會按下表選擇。,返回,（GB11345-89）所用試塊,試塊具有簡單幾何形狀人工反射體的試樣，常用于對儀器的參數(shù)進行調(diào)校及DAC曲線的制作。 1）、標準試塊右圖為CSK-IA試塊，常用于儀器基本參數(shù)的調(diào)校。,

4、返回,（GB11345-89）所用試塊,2）、對比試塊 下圖為RB-2試塊，常用于8~150mm鋼件探傷時的DAC曲線的制作。,返回,儀器的調(diào)校,1、儀器參數(shù)初步設(shè)定 1）、[基本]菜單中,[探測范圍]=150.0mm， [材料聲速]=3230m/s， [脈沖位移]=0.0mm。 2）、[計測]菜單中，[測試點選擇]=峰值。 3）、[收發(fā)]菜單中，[雙探頭]=off,[重復頻率]≥6，

5、 [檢波方式]= 雙向。2、探頭零點和前沿長度的測定 1）、用斜探頭對著CSK-IA試塊上的R100進行掃射，找到最高 回波，固定探頭，調(diào)節(jié)[a閘門起位]使a閘門套住該回波； 2）、調(diào)節(jié)[探頭零點]的值，使聲程“Sa”=100.0； 3）、用直尺量出探頭的前沿長度，輸入到[計測]菜單[前沿長 度X]欄中。,返回,儀器的調(diào)校,3、探頭K值的測定 1）、設(shè)置[計測]

6、菜單中[反射孔深度]=30.0mm， [孔徑]=φ50.0mm， [工件厚度]=100.0mm。 2）、用斜探頭對著CSK-IA試塊上圓心距離探測面30mm的 φ50mm孔進行掃射，找到最高回波，固定探頭， 使a閘門套住該回波，調(diào)節(jié)[角度測量]=on， 此時測量結(jié)果顯示在[角度]和[K值]中，屏幕下 方提示“是否刷新？”，再按一次▲鍵就保存了測量

7、 結(jié)果。,返回,1）、設(shè)置[DAC]菜單中[DAC曲線]=on，開始制作曲線。2）、用斜探頭掃射RB-2試塊上深度為10mm的φ3孔，找到最高 回波，使用閘門套住該回波，調(diào)節(jié)回波高度為80%，選中 DAC主菜單，按“打印”鍵，此時記錄了第一個回波參考 點，并畫出第一段曲線。,返回,4、 DAC曲線的制作缺陷回波的波高與缺陷大小及距離有關(guān)，DAC曲線就是描述某一確定反射體回波高度隨距離變化的關(guān)系

8、的曲線。,儀器的調(diào)校,3）、重復2項操作，依次記錄20mm、30mm、40mm、50mm等由 淺到深的孔的回波，在記錄完成所需回波參考點后，一組 DAC曲線制作完成。4）、按GB11345標準B級，在（DAC主菜單）將評定線、定量 線、判廢線分別設(shè)定為:“DAC-16dB”、“DAC-10dB”、 “DAC-4dB”。5）、在DAC主菜單“曲線選擇”設(shè)為“定量線”，另外工件表 面補償

9、一般要3、4dB,所以“增益校正”應(yīng)設(shè)置為“3、 4dB”。6）、在保存主菜單保存當前儀器狀態(tài)設(shè)定及DAC曲線到空白的 數(shù)據(jù)集內(nèi)，記錄好該曲線的儲存號。,返回,儀器的調(diào)校,5、遇有下述情況應(yīng)對儀器進行重新核查：1)、校準后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改 變時；2)、開路電壓波動或者檢測者懷疑靈敏度有變化 時；3)、連續(xù)工作4h以上時；4)、工作結(jié)束時。,儀器的調(diào)校,返回,其他輔助工具,

10、1、卷尺（測量焊縫縱向距離尺寸）2、直尺（測量水平距離尺寸）3、耦合劑（機油、漿糊、水。。。）4、刷子（在探測處涂抹耦合劑）5、抹布（探傷后清理耦合劑）6、文件夾及記錄表格（記錄探傷情況）,返回,對焊縫情況的了解,在探傷前要對焊縫及探傷處的外觀狀況進行了解，如焊縫坡口的形狀、尺寸，焊縫余高，焊縫內(nèi)側(cè)成型情況，板材表面粗糙程度等，對有影響檢驗結(jié)果評定的表面形狀突變應(yīng)進行適當?shù)男弈?，并做圓滑過渡，這樣有利于在探傷過程中對缺陷的情況

11、準確判定！,返回,探傷操作及缺陷的判定,掃查速度不應(yīng)大于150mm/s, 相鄰兩次探頭移動間隔保證 至少有探頭寬度10%的重疊。 對波幅超過評定線的反射波，應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反 射波的位置及焊縫情況，判斷其是否為缺陷，判斷為缺陷 的部位應(yīng)在焊縫表面作出標記。 為探測縱向缺陷,斜探頭垂直于焊縫中心線在探傷面上作 鋸齒型掃查，探頭前后移動的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫 截面及熱影響區(qū)，在保持探頭垂直焊縫作前后移動的同

12、時 探頭還應(yīng)作10°~15°的左右轉(zhuǎn)動。對所有反射波幅超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置，最 大反射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長度。,返回,探傷操作及缺陷的判定,缺陷位置以獲得缺陷最大反射波的位置來表示，根據(jù)相應(yīng)的探頭位置和反射波在熒光屏上的位置來確定如下全部或部分參數(shù)。a）、縱坐標L代表缺陷沿焊縫方向的位置，以檢驗區(qū)段編 號為標記基準點(即原點)建立坐標，坐標正方向距 離L表示缺陷

13、到原點之間的距離。 b）、深度坐標h代表缺陷位置到探傷面的垂直距離(mm)， 以缺陷最大反射波位置的深度值表示。 c）、橫坐標q代表缺陷位置離開焊縫中心線的垂直距離, 可由缺陷最大反射波位置的水平距離或簡化水平距 離求得。,返回,探傷操作及缺陷的判定,缺陷指示長度△L的測定推薦采用如下二種方法：1）、當缺陷反射波只有一個高點時，用降低6dB相對靈敏 度法測長，即半波高度法

14、。2）、在測長掃查過程中，如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變 化，有多個高點，則以缺陷兩端反射波極大值之間探 頭的移動長度確定為缺陷指示長度，即端點峰值法。,返回,缺陷評定1）、超過評定線的信號應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性 缺陷特征,如有懷疑應(yīng)采取改變探頭角度、增加探傷 面、觀察動態(tài)波型、結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定,如對 波型不能準確判斷時,應(yīng)輔以其他檢驗作綜合判定。2）、

15、最大反射波幅位于Ⅱ區(qū)的缺陷,其指示長度小于10mm 時按5mm計。 3）、相鄰兩缺陷各向間距小于8mm時,兩缺陷指示長度之 和作為單個缺陷的指示長度。,探傷操作及缺陷的判定,返回,檢驗結(jié)果的等級分類 1）、最大反射波幅位于Ⅱ區(qū)的缺陷，根據(jù)缺陷指示長度 按表中的規(guī)定予以評級。 2）、最大反射波幅不超過評定線的缺陷，均應(yīng)為Ⅰ級。 3）、最大反射波幅超過評定線的缺陷，檢驗者判定為裂紋

16、 等危害性缺陷時，無論其波幅和尺寸如何，均評定為 Ⅳ級。 4）、反射波幅位于Ⅰ區(qū)的非裂紋性缺陷，均評為Ⅰ級。 5）、反射波幅位于Ⅲ區(qū)的缺陷，無論其指示長度如何，均 評定為Ⅳ級。 6）、不合格的缺陷，應(yīng)予返修，返修后，應(yīng)對返修部位及補 焊受影響的區(qū)域，應(yīng)按原探傷條件進行復驗,探傷操作及缺陷的判定,返回,記錄 檢驗記錄主要內(nèi)容：工件名稱、編號、焊縫編號、坡口形式、焊縫

17、種類、母材材質(zhì)、規(guī)格、表面情況、探傷方法、檢驗規(guī)程、驗收標準、所用的儀器、探頭、耦合劑、試塊、掃描比例、探傷靈敏度、所發(fā)現(xiàn)的超標缺陷及評定記錄、檢驗人員及檢驗日期等，反射波幅位于Ⅱ區(qū)，其指示長度小于表中的缺陷也應(yīng)予記錄。,探傷操作及缺陷的判定,返回,整理工作,探傷完成后應(yīng)對每個作業(yè)面做到“工完料盡場地清”，剩余材料要堆放整齊、可靠，廢料及時清理干凈并放置于指定地點定期處置。超聲波儀器要進行定期檢查和保養(yǎng)，及時消除故障，嚴禁帶病運行。,