軟件測(cè)試的概述及方法畢業(yè)論文

1、1軟件測(cè)試的概述及方法摘要：從軟件產(chǎn)業(yè)的發(fā)展初期到目前的大型軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程，軟件測(cè)試已成為其中一個(gè)不可分割的部分。隨著軟件規(guī)模的日益增大，軟件測(cè)試問(wèn)題也日益突出，現(xiàn)代社會(huì)對(duì)軟件的依賴(lài)越來(lái)越強(qiáng)高可信軟件測(cè)試有著廣泛的需求，基于缺陷模式的軟件測(cè)試技術(shù)作為高可信軟件的重要保證可以大大降低軟件的缺陷密度提高軟件的可信性。本文從測(cè)試的基本概念入手深入剖析軟件測(cè)試相關(guān)理論關(guān)鍵字：關(guān)鍵字：軟件測(cè)試、白盒測(cè)試、黑盒測(cè)試、類(lèi)測(cè)試目錄1軟件測(cè)試的發(fā)展史軟件測(cè)

2、試的發(fā)展史..............................................................................42軟件測(cè)試的相關(guān)背景軟件測(cè)試的相關(guān)背景......................................537參考文獻(xiàn)參考文獻(xiàn)..............................................17....................

3、..........................178致謝致謝...................................................181軟件測(cè)試的發(fā)展史軟件測(cè)試的發(fā)展史軟件測(cè)試的發(fā)展歷史：20世紀(jì)60年代（軟件工程建立前），為表明程序正確而進(jìn)行測(cè)試。.1972年在北卡羅來(lái)納大學(xué)舉行了首屆軟件測(cè)試正式會(huì)議。.1975年JohnGoodEnough和SusanGerhart在IEEE上發(fā)表了《測(cè)試數(shù)據(jù)選

4、擇的原理》的文章，軟件測(cè)試被確定為一種研究方向。.1979年，GlenfdMyers的《軟件測(cè)試藝術(shù)》，對(duì)測(cè)試做了定義：測(cè)試是為發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而執(zhí)行的一個(gè)程序或者系統(tǒng)的過(guò)程。.20世紀(jì)80年代早期，“質(zhì)量”的號(hào)角開(kāi)始吹響。軟件測(cè)試定義發(fā)生了改變，測(cè)試不單純是一個(gè)發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的過(guò)程，而且包含軟件質(zhì)量評(píng)價(jià)的內(nèi)容。制定了各類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)。.1983年，BillHetzel在《軟件測(cè)試完全指南》中指出：測(cè)試是以評(píng)價(jià)一個(gè)程序或者系統(tǒng)屬性為目標(biāo)的任何一種活動(dòng)，測(cè)試是