基于ieee1149.4的混合信號(hào)測(cè)試生成與故障診斷研究

1、分類號(hào) 密級(jí) U D C 編號(hào) 桂 林 電 子 科 技 大 學(xué) 碩 士 學(xué) 位 論 文 題目 題目 基于 IEEE1149.4 的混合信號(hào)測(cè)試生成與故障診斷研究 ( 中 英 文 ) Research of Test Gener

2、ation and Fault Diagnosis for Mixed-Signal Circuits Based on IEEE1149.4 研 究 生 姓 名： 陳 壽 宏 指導(dǎo)教師姓名、 職務(wù)： 雷 加 副 教 授 申 請(qǐng) 學(xué) 位： 工 學(xué) 碩 士 學(xué) 科、 專 業(yè)： 測(cè)試計(jì)量技

3、術(shù)及儀器 提 交 論 文 日 期： 2006 年 4 月 論 文 答 辯 日 期： 2006 年 6 月 年 月 日 基于 IEEE1149.4 的混合信號(hào)測(cè)試生成與故障診斷研究 I 摘 要 隨著微電子技術(shù)的飛速發(fā)展， 集成電路的復(fù)雜度和集成度不斷提高， 傳統(tǒng)的測(cè)試方法已經(jīng)很難滿足新的測(cè)試要求， 尤其是混合電路的廣泛應(yīng)用， 使得對(duì)其有效的測(cè)試已變得越

4、來越重要和緊迫。 由于混合電路的復(fù)雜性， 對(duì)其的測(cè)試生成和故障診斷的研究具有重要的理論價(jià)值和實(shí)際意義。 本文在深入研究混合信號(hào)測(cè)試總線 IEEE1149.4 標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)提供的測(cè)試結(jié)構(gòu)， 研究基于邊界掃描技術(shù)的混合信號(hào)測(cè)試生成與故障診斷。 設(shè)計(jì)混合信號(hào)測(cè)試生成模塊， 重點(diǎn)研究擴(kuò)展互連的測(cè)試生成與故障診斷， 實(shí)現(xiàn)對(duì)擴(kuò)展互連測(cè)試的三種典型模式的自動(dòng)測(cè)試生成與故障診斷。 最后將測(cè)試矢量生成與 K 節(jié)點(diǎn)故障診斷結(jié)合實(shí)現(xiàn)復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試生