鈮酸鋰晶體近光軸電光調(diào)制及其應用.pdf

1、電光調(diào)制廣泛的應用在光通信、電光調(diào)Q等方面。其中電光調(diào)Q在激光雷達、激光測距、激光美容等領域有廣泛的應用前景。電光調(diào) Q主要有兩種工作方式：一種是退壓式電光調(diào)Q，一種是加壓式電光調(diào)Q，這兩種電光調(diào)Q方式各有優(yōu)缺點。預偏電光調(diào)Q是在加壓式電光調(diào)Q的基礎上進行改進，在實際應用中可以省去一個1/4波片，可以提高激光的輸出性能和峰值功率，但是在實際應用中也存在一些問題，在不同的通光方向上，激光的輸出情況不一樣；Q開關靜態(tài)關斷時少許漏光，光束質(zhì)量

2、比完全關死時要好。本論文對預偏電光調(diào) Q存在的問題進行了分析。
　　另外，目前測量晶體電光系數(shù)的方法有很多，例如：半波電壓法、比較法、干涉法、直接測光強法等。這些測量方法都有一定的不足之處，例如：半波電壓法要求激光光源有很好穩(wěn)定性。干涉法對鎖相放大器、防震措施、外部環(huán)境、光源的穩(wěn)定性有一定的要求，同時必須首先測量出晶體的壓電系數(shù)。比較法需要首先測量出標準樣品的電光系數(shù)。直接測光強法對激光光源的穩(wěn)定性要求很高等等，這些方法主要測量加

3、工后的大塊晶體。另外，在合成新電光晶體的初始階段，一般都是小顆粒晶體，檢測小顆粒晶體電光系數(shù)的方法還處于空白階段。本論文設計了一種測量晶體電光系數(shù)的新方法，該方法利用近光軸電光調(diào)制的原理可以測量3LiNbO和磷酸二氫鉀（KDP）類晶體的電光系數(shù)，具有操作容易、設備簡單、測試靈敏、無需防震措施和穩(wěn)定光源的優(yōu)點，并且對晶體尺寸大小沒有特殊要求，在探索新型電光晶體領域中，有望測量未知小顆粒晶體的電光系數(shù)。
　　論文分為以下幾個章節(jié)

4、>　　第一章，介紹了本論文的選題背景。首先介紹了電光調(diào) Q的應用領域和各調(diào) Q方式存在的問題。此外，還介紹了目前測量晶體電光系數(shù)方法的優(yōu)點以及不足之處，并針對這些問題提出了解決方案。
　　第二章，介紹了近光軸電光調(diào)制理論。其中包括：沿光軸時晶體的線性電光效應，近光軸時晶體的線性電光效應以及在正交偏振鏡中出射光的干涉強度。
　　第三章，利用近光軸電光調(diào)制的方法進行預偏電光調(diào)Q，從而獲得脈沖激光。本論文計算出鈮酸鋰晶體預偏角度為

5、 o3.96，對不同的通光方向激光輸出情況不一樣和 Q開關靜態(tài)關斷時少許漏光，光束質(zhì)量比完全關死時要好進行了分析，另外，根據(jù)近光軸電光調(diào)制的原理，測量了鈮酸鋰晶體的電光系數(shù)。對于3LiNbO和KDP類的晶體，當光的傳播方向在感應主軸方向上時，此時的電光效應是線性的，通過加電場和不加電場，來觀察干涉環(huán)的變化，當干涉環(huán)向一定的方向移動?/2時，此時對晶體所加的電壓就是晶體的半波電壓。根據(jù)半波電壓計算出鈮酸鋰晶體的電光系數(shù)。
　　第四章