基于嵌入式GPU的數(shù)碼印花缺陷檢測(cè)算法研發(fā).pdf

1、織物的印花缺陷檢測(cè)是進(jìn)行品質(zhì)控制的重要環(huán)節(jié)之一。目前主要采用的是傳統(tǒng)的人工檢測(cè)方法，但人工檢測(cè)存在成本高、檢測(cè)準(zhǔn)確率低和勞動(dòng)強(qiáng)度大等缺點(diǎn)。因此，本文研發(fā)出了一套穩(wěn)定、高效、魯棒的缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，能夠有效替代傳統(tǒng)的人工檢測(cè)，具有很好的工程應(yīng)用價(jià)值。
　　該系統(tǒng)基于嵌入式GPU，依托于實(shí)際的數(shù)碼印花機(jī)平臺(tái)，能夠準(zhǔn)確的檢測(cè)各種類型的印花缺陷?；跈C(jī)器視覺(jué)技術(shù)，首先對(duì)生產(chǎn)線上采集到的印花織物圖像進(jìn)行預(yù)處理，在降低圖像噪聲的同時(shí)能夠有效的增強(qiáng)

2、圖像缺陷部分和正常部分的對(duì)比度。接著針對(duì)不同的缺陷類型，提出了基于統(tǒng)計(jì)投影和多尺度LBP的印花缺陷檢測(cè)算法以及基于GMM的印花缺陷檢測(cè)算法，通過(guò)利用圖像紋理信息和對(duì)圖像進(jìn)行建模，能夠準(zhǔn)確定位印花圖案中的缺陷位置。此外，為了滿足工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的實(shí)時(shí)性要求，本文對(duì)研發(fā)的算法進(jìn)行了CUDA并行加速，極大的提高了整套算法的檢測(cè)性能。
　　經(jīng)過(guò)測(cè)試，該印花缺陷檢測(cè)系統(tǒng)能夠很好的滿足實(shí)際生產(chǎn)線中的功能和性能要求，一個(gè)噴印行最大檢測(cè)耗時(shí)控制在1