平均鍵能物理內(nèi)涵與肖特基勢(shì)壘和異質(zhì)結(jié)帶階的研究.pdf

1、該論文由五章組成,第1章介紹涉及該課題的研究背景和理論基礎(chǔ),第2到5章研究?jī)?nèi)容與結(jié)果的提要如下.第2章,研究自由電子能帶模型中的平均鍵能與費(fèi)米級(jí)間的關(guān)系.對(duì)于Si、Ge、GaP、InP、AlAs、GaAs、InAs、AlSb、GsSb和InSb等10種面心立方半導(dǎo)體晶體和六角結(jié)構(gòu)的Ti、Zr、Hf、與體心四方的Sn等4種金屬晶體,將它們的價(jià)電子近似為自由電子.第3章,研究金屬能帶中的平均鍵能與費(fèi)米能級(jí)間的關(guān)系.對(duì)于六角結(jié)構(gòu)(hcp)Ti

2、、Zr和Hf以及體心四方(btc)β-Sn等4種不同的金屬晶體,采用第一原理贗勢(shì)法計(jì)算它們的能帶結(jié)構(gòu),由價(jià)電子"電高填充態(tài)"確定其費(fèi)米能級(jí)E<'ID><,F>,并計(jì)算其平均鍵能E<,m>值,探討E<,m>與E<'ID><,F>的關(guān)系.第4章,研究半導(dǎo)體能帶中平均健能的物理內(nèi)涵及其在肖特基勢(shì)壘和異質(zhì)結(jié)帶階理論計(jì)算中的應(yīng)用.第5章,探討平均鍵能方法在應(yīng)用變層異質(zhì)結(jié)帶階理論計(jì)算中的應(yīng)用.該章以平均鍵能作為參考能級(jí),對(duì)于應(yīng)變層的平均帶階參數(shù)E<