一種基于部分掃描鏈的針對故障注入攻擊的密碼芯片安全測試方法.pdf

1、隨著數(shù)據(jù)挖掘、車聯(lián)網(wǎng)、云計算和智能家居等技術(shù)的提出與興起，互聯(lián)網(wǎng)已變得家喻戶曉，其影響力之驚人也是史無前例，網(wǎng)絡信息安全因此越來越多的被關(guān)注與重視。信息安全的基礎是對數(shù)據(jù)和信源的保護，密碼芯片是保護隱私信息的重要選擇，正被廣泛應用于重要的信息安全領(lǐng)域和隱私保護場合，但如果密碼芯片自身的安全測試存在問題，那么信息安全便將是紙上談兵。
　　目前，故障注入攻擊方法已經(jīng)對密碼芯片產(chǎn)生嚴重威脅?？墒怯捎趯γ艽a芯片有效故障注入的困難和測試管腳

2、的限制，對于密碼芯片面對故障注入威脅的安全性測試仍然是費時費力的采樣測試而不是批量測試，而且，當前對于密碼芯片的測試仍然是傳統(tǒng)的功能測試。
　　針對上述問題，本文對故障注入攻擊下的密碼芯片，提出了一種基于部分掃描鏈的安全性測試方法，該方法將可測性設計技術(shù)引入到密碼芯片的安全測試領(lǐng)域，將有效地將密碼芯片的安全測試往批量測試方向推進，從而增加測試手段和效率。
　　為篩選出插入掃描鏈的敏感寄存器，本文搭建了一個自動化的軟故障仿真平

3、臺來模擬故障注入攻擊密碼芯片，通過仿真的軟故障發(fā)生率結(jié)果，僅將敏感寄存器插入掃描鏈當中，這樣在減少插入掃描鏈的寄存器數(shù)目同時，又很好地保證了對硬件電路的可控制性和可觀測性。
　　同時，本文結(jié)合故障注入攻擊加（解）密算法的理論知識來篩選敏感寄存器，使得敏感寄存器的篩選更有依據(jù)，通過僅將這些敏感寄存器插入掃描鏈，進行部分掃描鏈綜合和測試向量生成實驗。
　　對高級加密標準 AES基準電路的實驗結(jié)果表明，該方法具有面積開銷小、自動化