復(fù)雜機(jī)電裝備電磁干擾(EMI)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、隨著復(fù)雜機(jī)電裝備中電子電氣器件的集成度越來(lái)越高，電磁兼容(EMC)問題日益突出，已經(jīng)成為制約我國(guó)大型機(jī)電裝備出口的一個(gè)技術(shù)壁壘。為解決這一問題，EMC測(cè)試方面的研究越來(lái)越受重視。EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試需在規(guī)定場(chǎng)地進(jìn)行，但由于開闊場(chǎng)(OATS)難以尋覓，電波暗室造價(jià)高昂、尺寸有限等因素，許多復(fù)雜裝備無(wú)法進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，只能在制造或者安裝現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行評(píng)估。本文以復(fù)雜機(jī)電裝備的EMI現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試為研究對(duì)象，重點(diǎn)研究復(fù)雜機(jī)電裝備現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試方案與環(huán)境噪聲剔除算法，并

2、在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證。
　　本文首先對(duì)電磁兼容測(cè)試的分類及原理進(jìn)行了簡(jiǎn)要介紹，總結(jié)了現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的研究現(xiàn)狀，分析了復(fù)雜機(jī)電裝備現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的特點(diǎn)及存在問題，提出了測(cè)試方案，根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的設(shè)備要求，構(gòu)建了測(cè)試系統(tǒng)。
　　接著，分析了現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中環(huán)境噪聲的來(lái)源及特點(diǎn)，找出傳統(tǒng)差分法的不足，利用幅偏與頻偏處理技術(shù)對(duì)環(huán)境噪聲信號(hào)進(jìn)行處理，再進(jìn)行相應(yīng)的差分計(jì)算與差值補(bǔ)償，設(shè)計(jì)了整個(gè)算法，并將計(jì)算結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)暗室測(cè)試結(jié)果進(jìn)行了對(duì)比驗(yàn)證，還與現(xiàn)有差

3、分法的計(jì)算結(jié)果進(jìn)行了對(duì)比。結(jié)果表明，該算法能有效剔除環(huán)境常駐窄帶信號(hào)，計(jì)算結(jié)果比現(xiàn)有差分法更接近實(shí)際值。
　　然后，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，并結(jié)合復(fù)雜機(jī)電裝備現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試特點(diǎn)，對(duì)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中輻射騷擾測(cè)試與傳導(dǎo)騷擾測(cè)試的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行了仔細(xì)推算，確定了合理的測(cè)試參數(shù)。
　　最后，利用構(gòu)建的測(cè)試系統(tǒng)，在工業(yè)環(huán)境下，對(duì)兩種有代表性的復(fù)雜機(jī)電裝備進(jìn)行了EMI測(cè)試，得出了相關(guān)測(cè)試結(jié)論，分析了存在的問題，并利用干擾源查找設(shè)備找到了干擾產(chǎn)生原因，提出了對(duì)應(yīng)